ZHCSAI4C August 2008 – November 2015 LMV831 , LMV832 , LMV834
PRODUCTION DATA.
隨著全球射頻發(fā)射設(shè)備的不斷增加,這些設(shè)備與其他設(shè)備之間的電磁干擾 (EMI) 成為一項(xiàng)愈加嚴(yán)重的挑戰(zhàn)。LMV831、LMV832 和 LMV834 是抗電磁干擾 (EMI) 運(yùn)算放大器,專為克服電磁干擾而設(shè)計(jì)。隨抗電磁干擾 (EMI) 運(yùn)算放大器一起引入了 EMIRR 參數(shù),以便無(wú)歧義地指定運(yùn)算放大器的 EMI 性能。本節(jié)概述 EMIRR。如需 獲取 有關(guān)該抗電磁干擾 (EMI) 運(yùn)算放大器規(guī)格的詳細(xì)說(shuō)明,請(qǐng)參閱 AN-1698 (SNOA497)。
與干擾射頻信號(hào)的波長(zhǎng)相比,運(yùn)算放大器 IC 的尺寸較小。因此,運(yùn)算放大器本身幾乎不會(huì)受到任何干擾。對(duì)運(yùn)算放大器的射頻信號(hào)干擾主要由 PCB 以及連接到運(yùn)算放大器的線路接收。因此,運(yùn)算放大器引腳上的射頻信號(hào)可能表示為電壓和電流。這種表示能夠極大地簡(jiǎn)化運(yùn)算放大器的 EMI 性能無(wú)歧義測(cè)量和規(guī)格。
射頻信號(hào)通過(guò)運(yùn)算放大器電路的非線性干擾運(yùn)算放大器。該非線性會(huì)導(dǎo)致對(duì)所謂的帶外信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)。實(shí)現(xiàn)的效果是帶外信號(hào)的調(diào)幅會(huì)下變頻至基帶。該基帶能夠很容易地與運(yùn)算放大器電路的頻帶進(jìn)行重疊。作為一個(gè)示例,Figure 43 展示了在存在干擾射頻信號(hào)的情況下單位增益連接運(yùn)算放大器的典型輸出信號(hào)。顯然,輸出電壓隨著射頻載波的開(kāi)關(guān)鍵控節(jié)奏而變化。
Figure 43. 由于干擾射頻信號(hào)而導(dǎo)致的偏移電壓變化