6.4 Thermal Characteristics
| THERMAL METRIC(1) |
DCA (48 PINS) |
UNITS |
| Special Test Case |
JEDEC Standard 2-Layer PCB |
JEDEC Standard 4-Layer PCB |
TAS5751MEVM |
| θJA |
Junction-to-ambient thermal resistance(2) |
|
49.9 |
26.2 |
24.0 |
°C/W |
| θJCtop |
Junction-to-case (top) thermal resistance(3) |
14.9 |
|
|
|
°C/W |
| θJB |
Junction-to-board thermal resistance(4) |
6.9 |
|
|
|
°C/W |
| ψJT |
Junction-to-top characterization parameter(5) |
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1.1 |
0.8 |
0.7 |
°C/W |
| ψJB |
Junction-to-board characterization parameter(6) |
|
10.8 |
6.8 |
1.7 |
°C/W |
| θJCbot |
Junction-to-case (bottom) thermal resistance(7) |
1.7 |
|
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°C/W |
(1) 有關(guān)傳統(tǒng)和新熱指標(biāo)的更多信息,請(qǐng)參見應(yīng)用報(bào)告
《半導(dǎo)體和 IC 封裝熱指標(biāo)》(文獻(xiàn)編號(hào):
SPRA953)。
(2) 在 JESD51-2a 描述的環(huán)境中,按照 JESD51-7 的規(guī)定,在一個(gè) JEDEC 標(biāo)準(zhǔn)高 K 電路板上進(jìn)行仿真,從而獲得自然對(duì)流條件下的結(jié)至環(huán)境熱阻抗。
(3) 通過(guò)在封裝頂部進(jìn)行冷板測(cè)試仿真來(lái)獲得結(jié)至外殼(頂部)熱阻。JEDEC 標(biāo)準(zhǔn)中沒(méi)有相關(guān)測(cè)試的描述,但 可在 ANSI SEMI 標(biāo)準(zhǔn) G30 - 88 中找到相應(yīng)的說(shuō)明。
(4) 結(jié)至板熱阻,可按照 JESD51-8 中的說(shuō)明在使用環(huán)形冷板夾具來(lái)控制 PCB 溫度的環(huán)境中進(jìn)行仿真來(lái)獲得。
(5) 結(jié)點(diǎn)至頂部特性參數(shù) ψJT 估算器件在實(shí)際系統(tǒng)中的結(jié)溫,可通過(guò) JESD51-2a(第 6 節(jié)和第 7 節(jié))介紹的步驟從獲得 RθJA 的仿真數(shù)據(jù)中獲取該溫度。
(6) 結(jié)點(diǎn)至電路板特性參數(shù) ψJB 估算器件在實(shí)際系統(tǒng)中的結(jié)溫,可通過(guò) JESD51-2a(第 6 節(jié)和第 7 節(jié))介紹的步驟從獲得 RθJA 的仿真數(shù)據(jù)中獲取該溫度。
(7) 通過(guò)在外露(電源)焊盤上進(jìn)行冷板測(cè)試仿真來(lái)獲得結(jié)至外殼(底部)熱阻。JEDEC 標(biāo)準(zhǔn)中沒(méi)有相關(guān)測(cè)試的描述,但 可在 ANSI SEMI 標(biāo)準(zhǔn) G30 - 88 中找到相應(yīng)的說(shuō)明。
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