ZHCSPU9B February 2024 – October 2025 TCAN1575-Q1 , TCAN1576-Q1
PRODUCTION DATA
| 參數(shù) | 測試條件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 單位 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| CAN 收發(fā)器開關(guān)特性 | ||||||
| tprop(TxD-busdom) | 傳播延遲時間，高電平到低電平的 TXD 邊沿到總線顯性狀態(tài)（隱性狀態(tài)到顯性狀態(tài)） |
45Ω ≤ RL ≤ 65Ω，CL = 100pF，RCM = 開路；請參閱接收器測試電路與測量；TXD 上的輸入信號的上升時間（10% 至 90%）和下降時間（90% 至 10%）應(yīng)小于 10ns |
80 | ns | ||
| tprop(TxD-busrec) | 傳播延遲時間，低電平到高電平的 TXD 邊沿到總線隱性狀態(tài)（顯性狀態(tài)到隱性狀態(tài)） | 80 | ns | |||
| tsk(p) | 脈沖偏斜 (|tpHR – tpLD|) | 10 | 40 | ns | ||
| tR/F | 差分輸出信號上升時間 | 5 | 55 | 75 | ns | |
| tprop(busdom-RxD) | 傳播延遲時間，總線顯性輸入到 RxD 低電平輸出 | CL(RXD) = 15pF； 請參閱接收器測試電路與測量；TXD 上的輸入信號的上升時間（10% 至 90%）和下降時間（90% 至 10%）應(yīng)小于 10ns |
110 | ns | ||
| tprop(busrec-RxD) | 傳播延遲時間，總線隱性輸入到 RXD 高電平輸出 | 110 | ns | |||
| tPROP(LOOP1) | 總環(huán)路延遲，驅(qū)動器輸入 (TXD) 到接收器輸出 (RXD)，顯性狀態(tài)至隱性狀態(tài) | 45? ≤ RL ≤ 65Ω，CL = 100pF，CL(RXD) = 15pF 請參閱發(fā)送器和接收器時序行為測試電路和測量 |
100 | 190 | ns | |
| tPROP(LOOP2) | 總循環(huán)延遲，驅(qū)動器輸入 (TXD) 至接收器輸出 (RXD)，隱性狀態(tài)至顯性狀態(tài) | 45? ≤ RL ≤ 65Ω，CL = 100pF，CL(RXD) = 15pF 請參閱發(fā)送器和接收器時序行為測試電路和測量 |
110 | 190 | ns | |
| CAN FD 位時序 | ||||||
| tBIT(BUS)(1) | 2Mbps tBIT(TXD) = 500ns 時 CAN 總線輸出引腳上的位時間 | 45? ≤ RL ≤ 65Ω，CL = 100pF，CL(RXD) = 15pF ΔtREC = tBIT(RXD) - tBIT(BUS) 請參閱發(fā)送器和接收器時序行為測試電路和測量 |
490 | 510 | ns | |
| 5Mbps tBIT(TXD) = 200ns 時 CAN 總線輸出引腳上的位時間 | 190 | 210 | ||||
| tBIT(BUS)(1) | 8Mbps tBIT(TXD) = 125ns 時 CAN 總線輸出引腳上的位時間(2) | RL = 60?，CL = 100pF，CL(RXD) = 15pF ΔtREC = tBIT(RXD) - tBIT(BUS) 請參閱發(fā)送器和接收器時序行為測試電路和測量 |
115 | 135 | ns | |
| tBIT(RXD)(1) | 2Mbps tBIT(TXD) = 500ns 時 CAN 總線輸出引腳上的位時間 | 45? ≤ RL ≤ 65Ω，CL = 100pF，CL(RXD) = 15pF ΔtREC = tBIT(RXD) - tBIT(BUS) 請參閱發(fā)送器和接收器時序行為測試電路和測量 |
470 | 520 | ns | |
| 5Mbps tBIT(TXD) = 200ns 時 CAN 總線輸出引腳上的位時間 | 170 | 220 | ||||
| tBIT(RXD)(1) | 8Mbps tBIT(TXD) = 125ns 時 CAN 總線輸出引腳上的位時間(2) | RL = 60?，CL = 100pF，CL(RXD) = 15pF ΔtREC = tBIT(RXD) - tBIT(BUS) 請參閱發(fā)送器和接收器時序行為測試電路和測量 |
95 | 145 | ns | |
| ΔtREC(1) | 2Mbps tBIT(TXD) = 500ns 時的接收器時序?qū)ΨQ性 | 45? ≤ RL ≤ 65Ω，CL = 100pF，CL(RXD) = 15pF ΔtREC = tBIT(RXD) - tBIT(BUS) 請參閱發(fā)送器和接收器時序行為測試電路和測量 |
-20 | 15 | ns | |
| 5Mbps tBIT(TXD) = 200ns 時的接收器時序?qū)ΨQ性 | -20 | 15 | ||||
| ΔtREC(1) | 8Mbps tBIT(TXD) = 125ns 時的接收器時序?qū)ΨQ性(2) | RL = 60?，CL = 100pF，CL(RXD) = 15pF ΔtREC = tBIT(RXD) - tBIT(BUS) 請參閱發(fā)送器和接收器時序行為測試電路和測量 |
-20 | 15 | ns | |
| 信號改善特性 | ||||||
| tPAS_REC_START | 被動隱性階段的信號增強開始時間 | 從 TXD 上升沿（斜率 < 5ns，50% 閾值）開始測量，持續(xù)到信號改善階段結(jié)束； RDIFF_PAS_REC ≥ MIN RDIFF_ACT_REC； RSE_CANH/L ≥ MIN RSE_SIC_REC 請參閱發(fā)送器和接收器時序行為測試電路和測量 |
530 | ns | ||
| tACT_REC_START | 主動信號改善階段的開始時間 | 在 50% 閾值且斜率 < 5ns 時從 TXD 上升沿開始測量， | 120 | ns | ||
| tACT_REC_END | 主動信號改善階段的結(jié)束時間 | 在 50% 閾值且斜率 < 5ns 時從 TXD 上升沿開始測量， | 355 | ns | ||
| SPI 開關(guān)特性 | ||||||
| fSCK | SCK，SPI 時鐘頻率 | 正常、待機、監(jiān)聽和失效防護(hù)模式 | 4 | MHz | ||
| 睡眠模式：如果 VIO 存在 | 10 | kHz | ||||
| tSCK | SCK，SPI 時鐘周期 | 正常、待機、監(jiān)聽和失效防護(hù)模式；請參閱SPI AC 特征讀取 | 250 | ns | ||
| 睡眠模式：如果 VIO 存在；請參閱SPI AC 特征讀取 | 1 | μs | ||||
| tRSCK | SCK 上升時間 | 請參閱 SPI AC 特征寫入 | 40 | ns | ||
| tFSCK | SCK 下降時間 | 請參閱 SPI AC 特征寫入 | 40 | ns | ||
| tSCKH | SCK，SPI 時鐘高電平 | 正常、待機、監(jiān)聽和失效防護(hù)模式；請參閱SPI AC 特征讀取 | 125 | ns | ||
| 睡眠模式：如果 VIO 存在；請參閱SPI AC 特征讀取 | 500 | ns | ||||
| tSCKL | SCK，SPI 時鐘低電平 | 正常、待機、監(jiān)聽和失效防護(hù)模式；請參閱SPI AC 特征讀取 | 125 | ns | ||
| 睡眠模式：如果 VIO 存在 | 500 | ns | ||||
| tCSS | 芯片選擇建立時間 | 請參閱 SPI AC 特征寫入 | 100 | ns | ||
| tCSH | 芯片選擇保持時間 | 請參閱 SPI AC 特征寫入 | 100 | ns | ||
| tCSD | 芯片選擇禁用時間 | 請參閱 SPI AC 特征寫入 | 50 | ns | ||
| tSISU | 數(shù)據(jù)輸入建立時間 | 正常、待機、監(jiān)聽和失效防護(hù)模式；請參閱SPI AC 特征寫入 | 50 | ns | ||
| 睡眠模式：如果 VIO 存在；請參閱SPI AC 特征寫入 | 200 | ns | ||||
| tSIH | 數(shù)據(jù)輸入保持時間 | 正常、待機、監(jiān)聽和失效防護(hù)模式；請參閱SPI AC 特征寫入 | 50 | ns | ||
| 睡眠模式：如果 VIO 存在；請參閱SPI AC 特征寫入 | 200 | ns | ||||
| tSOV | 數(shù)據(jù)輸出有效 | 正常、待機、監(jiān)聽和失效防護(hù)模式；請參閱SPI AC 特征讀取 | 80 | ns | ||
| 睡眠模式：如果 VIO 存在；請參閱SPI AC 特征讀取 | 200 | ns | ||||
| tRSO | 數(shù)據(jù)輸出上升時間 | 請參閱 SPI AC 特征讀取 | 40 | ns | ||
| tFSO | 數(shù)據(jù)輸出下降時間 | 請參閱 SPI AC 特征讀取 | 40 | ns | ||