ZHCSWO8 August 2024 TLV1H103-SEP
PRODUCTION DATA
當(dāng)設(shè)計需要檢測短暫過流情況時,可以利用 TLV1H103-SEP 的鎖存特性。通過鎖存比較器輸出,MCU 不會遺漏任何過流事件。下面的電路顯示了實現(xiàn)鎖存功能的一種方法。
當(dāng) TLV1H103-SEP 檢測到過流情況時,輸出將切換為高電平。當(dāng)輸出變?yōu)楦唠娖?,再加?MCU 的 RESET 信號為邏輯高電平時,便會在 2 通道與非門的輸出端產(chǎn)生一個邏輯低電平信號。這會導(dǎo)致 TLV1H103-SEP 的輸出保持在邏輯高電平狀態(tài)(鎖存),從而使 MCU 能夠檢測到故障狀況,而不管過流情況持續(xù)多短的時間。通過添加與非門,還可以在 MCU 處理完事件后清除比較器的鎖存狀態(tài)。這是通過 MCU 將邏輯低電平狀態(tài)傳遞到 NAND 輸入,從而使比較器的 LE/HYS 引腳返回到邏輯高電平狀態(tài)來實現(xiàn)的。鎖存狀態(tài)會被清除,TLV1H103-SEP 輸出端可以繼續(xù)跟蹤輸入引腳的狀態(tài)。
過流鎖存輸出電路