在此仿真中，輸入 PWM 信號(hào)設(shè)置為 10kHz，占空比為 15% 的方波。其他條件設(shè)置為常見的應(yīng)用情況。圖 4-2 是對(duì) DESAT 保護(hù)情況的仿真結(jié)果。

在靜態(tài)狀態(tài)下，PWM 輸入為低電平，因此與非門輸出為高電平。UCC23513 沒有輸入電流，因此 GATE 上的輸出也是低電平。因此，隔離式比較器 AMC23C11 的 VCIN 輸入電壓拉至零；輸出 OUT 和 nDESAT 拉至高電平。

當(dāng)輸入 PWM 信號(hào)變?yōu)楦唠娖綍r(shí)，只要 nDESAT 仍處于高電平，與非門的輸出就會(huì)切換為低電平。然后，UCC23513 獲得輸入電流并在 GATE 上輸出高電平。然后 IGBT U4 導(dǎo)通，V_CE 下降至 V_CE(SAT)。檢測電流從 GATE 流出，經(jīng)過 R10、R12 和 D1 流向 IGBT U4 的集電極，使 VT1 節(jié)點(diǎn)的電壓跟隨 IGBT 的實(shí)際 V_CE，且通過 R13 和 R14 的電阻分壓器使 VCIN 電壓跟隨 VT1 電壓。如果 VCIN 未達(dá)到 VREF 的閾值，比較器的輸出 OUT 和濾波后的輸出 nDESAT 將保持高電平。

圖 4-2 觸發(fā) DESAT 的仿真結(jié)果

對(duì)于 DESAT 觸發(fā)過程，如上圖所示，當(dāng)輸入 PWM 信號(hào)（底部圖中的綠色跡線）變?yōu)楦唠娖綍r(shí)，IGBT 的 GATE 電壓（頂部圖中的紅色跡線）很快就會(huì)上升，IGBT 的 V_CE 檢測電壓 VT1（頂部圖中的綠色跡線）也將上升。然后，比較器的輸入 VCIN（中間圖中的綠色跡線）將開始上升，以便按比例跟隨 VT1 電壓。

然后 IGBT 的 V_CE（頂部圖中的藍(lán)色跡線）開始下降。當(dāng) V_CE 下降至低于 GATE 電壓時(shí)，VT1 電壓開始跟隨 V_CE。

在 VCIN 達(dá)到由 VREF（中間圖中的紅線）設(shè)置的 1.5V 觸發(fā)閾值之前，比較器的輸出 OUT（底部圖中的藍(lán)色跡線）將保持高電平。VCIN 達(dá)到觸發(fā)電平后，比較器的 OUT 將拉至低電平，其內(nèi)部傳播延遲通常為 240ns。nDESAT 的濾波輸出（底部圖中的紅色跡線）也將開始下降。

作為與非門 U3 的輸入，nDESAT 觸發(fā) U3 的負(fù)向閾值后，柵極驅(qū)動(dòng)器 U1 的輸入電流會(huì)切斷，且輸出 GATE 將下拉。因此 IGBT 也會(huì)關(guān)斷，且 V_CE 將很快上升。此過程是電路的 DESAT 保護(hù)。

當(dāng)下拉 GATE 時(shí)，也會(huì)下拉 VT1，且 VCIN 將開始下降。當(dāng) VCIN 降至低于比較器輸入的閾值時(shí)，OUT 將再次上升。AMC23C14 就是這種情況。

當(dāng)引腳 7（LATCH 輸入）連接到低電平時(shí)，AMC23C11 的行為與上述過程完全相同。當(dāng) LATCH 引腳拉至高電平時(shí)，比較器 OUT 引腳上的輸出低電平將鎖存；直至 LATCH 引腳拉至低電平并持續(xù)至少 4μs 來解除鎖存狀態(tài)。