ZHCAFN7 August 2025 DP83826AE , DP83826AI
以下指南是兼容晶體的主要參考規(guī)格。
| 參數(shù) | 測(cè)試條件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|---|
| 頻率 | 25 | MHz | |||
| 頻率容差 | 工作溫度 | -100 | 100 | ppm | |
| 負(fù)載電容 | 15 | 40 | pF | ||
| ESR | 50 | Ω |
| 參數(shù) | 測(cè)試條件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|---|
| 頻率 | 25 | MHz | |||
| 頻率容差 | 工作溫度 | ±50 | ppm | ||
| 頻率穩(wěn)定性 | 1 年老化 | ±50 | ppm | ||
| 上升/下降時(shí)間 | 20% - 80% | 5 | ns | ||
| 對(duì)稱(chēng)性 | 占空比 | 40% | 60% | ||
| 抖動(dòng) RMS | 集成頻帶：12kHz 至 5MHz | 11 | ps |
驗(yàn)證頻率和信號(hào)完整性。為了確保鏈路完整性，參考時(shí)鐘必須為：
如果使用晶體作為時(shí)鐘源，建議探測(cè) CLK_OUT 信號(hào)。探測(cè)晶體節(jié)點(diǎn)可以改變?nèi)菪载?fù)載，從而改變工作頻率。
CLK_OUT 上的默認(rèn)信號(hào)是 XI 基準(zhǔn)的緩沖版本，將提供代表性測(cè)量。如果由于搭接原因 CLK_OUT 不可用，或其意外缺失，則必須探測(cè) XI 引腳，但結(jié)果需謹(jǐn)慎參考。