ZHCSO38A November 2020 – March 2021 LMR33610 , LMR33620 , LMR33630 , LMR33640
本節(jié)基于業(yè)內(nèi)廣泛使用的以下兩種不同的可靠性標(biāo)準(zhǔn)，提供了 LMR33640 的功能安全時(shí)基故障 (FIT) 率：
| 時(shí)基故障 IEC TR 62380/ISO 26262 | 時(shí)基故障（每 109 小時(shí)的故障次數(shù)） |
|---|---|
| 元件的總時(shí)基故障率 | 14 |
| 裸片時(shí)基故障率 | 6 |
| 封裝時(shí)基故障率 | 8 |
表 3-3 中的故障率和任務(wù)概要信息摘自可靠性數(shù)據(jù)手冊(cè) IEC TR 62380/ISO 26262 第 11 部分：
| 表 | 類別 | 基準(zhǔn)時(shí)基故障率 | 基準(zhǔn)虛擬 TJ |
|---|---|---|---|
| 5 | CMOS、BICMOS 數(shù)字、模擬/混合 |
25 時(shí)基故障 | 55°C |
表 3-4 中的基準(zhǔn)時(shí)基故障率和基準(zhǔn)虛擬 TJ（結(jié)溫）摘自 Siemens Norm SN 29500-2 表 1 至表 5。根據(jù) SN 29500-2 第 4 節(jié)中的轉(zhuǎn)換信息，利用基準(zhǔn)故障率和虛擬結(jié)溫計(jì)算出運(yùn)行狀態(tài)下的故障率。