電路板上的測試點(diǎn)可用于連接 EVM 的電源輸入和負(fù)載輸出。典型的測試設(shè)置,請(qǐng)參閱 圖 1-1。下面列出了測試點(diǎn)接頭的功能:
- VIN_EMI - EVM 的輸入電源,包括一個(gè) EMI 濾波器。連接至輸入電源。在此點(diǎn)連接進(jìn)行以 EMI 測試。
- GND_EMI — 輸入電源的接地連接。
- VIN - IC 的輸入電源??蛇B接到 DMM 以測量 EMI 濾波器之后的輸入電壓。
- VOUT — EVM 的輸出電壓測試點(diǎn)??蛇B接到所需負(fù)載。
- GND — 接地測試點(diǎn)。
- EN - 此測試點(diǎn)連接到 EN 引腳。默認(rèn)情況下,有一個(gè)上拉電阻 R1 (RENT) 連接到 VIN 以啟用 IC。
- PGOOD - 此測試點(diǎn)從 IC 連接到 PGOOD 引腳??赏ㄟ^上拉電阻器連接外部電源或保持?jǐn)嚅_。
- RT - 在 RT 修整器件中,此測試點(diǎn)連接到 IC 的 RT 引腳。