ZHCUCB7 September 2024
圖 3-1 和圖 3-2 顯示了 TPS548B23EVM 的效率。表 3-4 中列出了用于效率測(cè)量的測(cè)試點(diǎn)。使用這些測(cè)試點(diǎn)可盡可能降低 PCB 寄生功率損耗對(duì)測(cè)量功率損耗的影響。
以下是一些額外的測(cè)試設(shè)置注意事項(xiàng),用于盡可能減少外部功率損耗來源。
| 測(cè)試點(diǎn)名稱 | 參考位號(hào) | 功能 |
|---|---|---|
| VIN_S | TP1 | 連接在引腳附近的輸入電壓測(cè)試點(diǎn) |
| PGND_S | TP18 | 輸入電壓的 PGND 參考測(cè)試點(diǎn) |
| VOUT_S | TP2 | 輸出電感附近的輸出電壓測(cè)試點(diǎn) |
| PGND_S | TP19 | 輸出電壓的 PGND 參考測(cè)試點(diǎn) |