ZHCUCL3 November 2024
TMUX73XXF-EVM 針對(duì)每個(gè) I/O 和 OVP 觸發(fā)閾值具有兩個(gè)測(cè)試點(diǎn),因此有三十四個(gè)測(cè)試點(diǎn)可用于測(cè)試 TMUX73XXF 系列器件。還包含七個(gè)額外的接地測(cè)試點(diǎn),有助于輕松測(cè)試電路板。