產(chǎn)品詳情

Number of channels 1 Vrwm (V) 24 Bi-/uni-directional Bi-directional Package name SOD523 Peak pulse power (8/20 μs) (max) (W) 102 IO capacitance (typ) (pF) 1.6 IEC 61000-4-2 contact (±V) 22000 IEC 61000-4-5 (A) 2.8 Features ESD Protection Clamping voltage (V) 36.5 Dynamic resistance (typ) 0.6 Interface type General purpose, LIN Breakdown voltage (min) (V) 25.5 IO leakage current (max) (nA) 50 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -55 to 150
Number of channels 1 Vrwm (V) 24 Bi-/uni-directional Bi-directional Package name SOD523 Peak pulse power (8/20 μs) (max) (W) 102 IO capacitance (typ) (pF) 1.6 IEC 61000-4-2 contact (±V) 22000 IEC 61000-4-5 (A) 2.8 Features ESD Protection Clamping voltage (V) 36.5 Dynamic resistance (typ) 0.6 Interface type General purpose, LIN Breakdown voltage (min) (V) 25.5 IO leakage current (max) (nA) 50 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -55 to 150
SOT-5X3 (DYA) 2 1.28 mm2 1.6 x 0.8
  • IEC 61000-4-2 4 級 ESD 保護(hù):
    • ±22kV 或 ±15kV 接觸放電
    • ±22kV 或 ±15kV 氣隙放電
  • 強(qiáng)大的浪涌保護(hù):
    • IEC 61000-4-5 (8/20μs):2.8A 或 1.8A
  • 24V 工作電壓
  • 雙向 ESD 保護(hù)
  • 低鉗位電壓可保護(hù)下游元件
  • 溫度范圍:–55°C 至 +150°C
  • I/O 電容 = 1.6pF 或 1.1pF(典型值)
  • 采用標(biāo)準(zhǔn)引線式封裝和 0402 尺寸封裝:SoD-523 (DYA) 和 X1SON (DPY)
  • 引線式封裝,用于自動光學(xué)檢測 (AOI)
  • IEC 61000-4-2 4 級 ESD 保護(hù):
    • ±22kV 或 ±15kV 接觸放電
    • ±22kV 或 ±15kV 氣隙放電
  • 強(qiáng)大的浪涌保護(hù):
    • IEC 61000-4-5 (8/20μs):2.8A 或 1.8A
  • 24V 工作電壓
  • 雙向 ESD 保護(hù)
  • 低鉗位電壓可保護(hù)下游元件
  • 溫度范圍:–55°C 至 +150°C
  • I/O 電容 = 1.6pF 或 1.1pF(典型值)
  • 采用標(biāo)準(zhǔn)引線式封裝和 0402 尺寸封裝:SoD-523 (DYA) 和 X1SON (DPY)
  • 引線式封裝,用于自動光學(xué)檢測 (AOI)

ESD751 和 ESD761 是適用于 USB 電力輸送 (USB-PD) 的單通道低電容雙向 ESD 保護(hù)器件。這些器件旨在耗散超過 IEC 61000-4-2 國際標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定最高水平(分別為 ±22kV 接觸放電、±22kV 氣隙放電,以及 ±15kV 接觸放電、±15kV 氣隙放電)的接觸 ESD 沖擊。低動態(tài)電阻和低鉗位電壓有助于保護(hù)系統(tǒng)免受瞬態(tài)事件的影響。這種保護(hù)至關(guān)重要,因為工業(yè)系統(tǒng)對魯棒性和可靠性的要求很高。

ESD751 和 ESD761 是適用于 USB 電力輸送 (USB-PD) 的單通道低電容雙向 ESD 保護(hù)器件。這些器件旨在耗散超過 IEC 61000-4-2 國際標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定最高水平(分別為 ±22kV 接觸放電、±22kV 氣隙放電,以及 ±15kV 接觸放電、±15kV 氣隙放電)的接觸 ESD 沖擊。低動態(tài)電阻和低鉗位電壓有助于保護(hù)系統(tǒng)免受瞬態(tài)事件的影響。這種保護(hù)至關(guān)重要,因為工業(yè)系統(tǒng)對魯棒性和可靠性的要求很高。

下載 觀看帶字幕的視頻 視頻

您可能感興趣的相似產(chǎn)品

功能與比較器件相同,但引腳排列有所不同
ESD761 正在供貨 適用于 USB 電力輸送的 1.1pF、±24V、±15kV ESD 保護(hù)二極管 24-V ESD device with lower capacitance and in a smaller package

技術(shù)文檔

star =有關(guān)此產(chǎn)品的 TI 精選熱門文檔
未找到結(jié)果。請清除搜索并重試。
查看全部 4
類型 標(biāo)題 下載最新的英語版本 日期
* 數(shù)據(jù)表 ESD751 和ESD761 24V 單通道 ESD 保護(hù)二極管 數(shù)據(jù)表 (Rev. C) PDF | HTML 英語版 (Rev.C) PDF | HTML 2023年 1月 11日
應(yīng)用手冊 用于 USB 接口的 ESD 和浪涌保護(hù) (Rev. B) PDF | HTML 英語版 (Rev.B) PDF | HTML 2024年 1月 23日
應(yīng)用手冊 ESD 包裝和布局指南 (Rev. B) PDF | HTML 英語版 (Rev.B) PDF | HTML 2022年 9月 14日
模擬設(shè)計期刊 系統(tǒng)級 ESD 電路保護(hù)的設(shè)計注意事項 英語版 2012年 12月 6日

設(shè)計和開發(fā)

如需其他信息或資源,請點擊以下任一標(biāo)題進(jìn)入詳情頁面查看(如有)。

評估板

ESDEVM — 適用于 ESD 二極管封裝(包括 0402、0201 等)的通用評估模塊

靜電敏感器件 (ESD) 評估模塊 (EVM) 是用于 TI 大部分 ESD 產(chǎn)品系列的開發(fā)平臺。為了測試任何型號的器件,該電路板支持所有傳統(tǒng)的 ESD 封裝結(jié)構(gòu)。器件可以焊接到相應(yīng)封裝結(jié)構(gòu),然后進(jìn)行測試。如果是典型的高速 ESD 二極管,則應(yīng)采用阻抗受控布局來獲取 S 參數(shù)并剝離電路板引線。如果是非高速 ESD 二極管,則應(yīng)采用有布線連接到測試點的封裝結(jié)構(gòu),以便輕松運(yùn)行直流測試,例如擊穿電壓、保持電壓、漏電流等。該電路板布局布線還可以通過將信號引腳短接至信號所在的位置,輕松地將任何器件引腳連接到電源 (VCC) 或地。
用戶指南: PDF | HTML
TI.com 上無現(xiàn)貨
封裝 引腳 CAD 符號、封裝和 3D 模型
SOT-5X3 (DYA) 2 Ultra Librarian

訂購和質(zhì)量

包含信息:
  • RoHS
  • REACH
  • 器件標(biāo)識
  • 引腳鍍層/焊球材料
  • MSL 等級/回流焊峰值溫度
  • MTBF/時基故障估算
  • 材料成分
  • 鑒定摘要
  • 持續(xù)可靠性監(jiān)測
包含信息:
  • 制造廠地點
  • 封裝廠地點

推薦產(chǎn)品可能包含與 TI 此產(chǎn)品相關(guān)的參數(shù)、評估模塊或參考設(shè)計。

支持和培訓(xùn)

可獲得 TI 工程師技術(shù)支持的 TI E2E? 論壇

所有內(nèi)容均由 TI 和社區(qū)貢獻(xiàn)者按“原樣”提供,并不構(gòu)成 TI 規(guī)范。請參閱使用條款。

如果您對質(zhì)量、包裝或訂購 TI 產(chǎn)品有疑問,請參閱 TI 支持。??????????????

視頻