ISOS510-SEP
- 輻射性能
- 電離輻射總劑量 (TID) 特征值(無 ELDRS)高達 50krad(Si)
- TID RLAT 高達 30krad(Si)
- 單粒子鎖定 (SEL) 在 125°C 下對 LET 的抗擾度高達 43MeV-cm2/mg
- 單粒子功能中斷 (SEFI) 和單粒子瞬變 (SET) 對于 LET 的額定值高達 43MeV-cm2/mg
- 增強型航天塑料(航天 EP)
- 符合 NASA ASTM E595 釋氣規(guī)格要求
- 軍用級溫度范圍(-55°C 至 125°C)
- 單通道二極管輸入
- IF = 5mA、VCE = 5V 時的電流傳輸比 (CTR):100% 至 155%
- 高集電極-發(fā)射極電壓:VCE(最大值)= 30V
- 穩(wěn)健 SiO2 隔離柵
- 隔離等級:3750VRMS
- 工作電壓:500VRMS,707VPK
- 浪涌能力:高達 10kV
- 響應時間:VCE = 10V、IC = 2mA、RL = 100Ω 時為 3μs(典型值)
- 小型 4 引腳封裝 (DFG)
- 安全相關認證:
- UL 1577 認證
- 符合由 VDE 按 DIN EN IEC 60747-17 (VDE 0884-17) 標準進行的認證
ISOS510 抗輻射 器件是一款具有晶體管輸出的單通道電流驅動模擬隔離器。與其他電流驅動型模擬隔離器相比,該器件具有顯著的可靠性和性能優(yōu)勢,包括高帶寬、低關斷延遲、低功耗、更寬的溫度范圍、平坦的電流傳輸比 (CTR),以及因嚴格的工藝控制而實現(xiàn)的極小器件間偏差。這些性能優(yōu)勢可在整個輻射、溫度和使用壽命范圍內保持穩(wěn)定。
ISOS510 采用引腳間距為 2.54mm 的小型 SOIC-4 封裝,支持 3.75kVRMS 隔離額定值。ISOS510 器件具有高性能和高可靠性,因此可用于航空航天和國防應用,例如隔離式直流/直流模塊中的反饋環(huán)路、衛(wèi)星推進電源處理單元、航天器電池管理系統(tǒng)等。
技術文檔
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查看全部 2 | 頂層文檔 | 類型 | 標題 | 格式選項 | 下載最新的英語版本 | 日期 | |
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| * | 數(shù)據(jù)表 | ISOS510-SEP 具有晶體管輸出的 抗 輻射電流驅動模擬隔離器 數(shù)據(jù)表 | PDF | HTML | 英語版 | PDF | HTML | 2025年 8月 19日 |
| 應用手冊 | 所選封裝材料的熱學和電學性質 | 2008年 10月 16日 |
設計與開發(fā)
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| 封裝 | 引腳 | CAD 符號、封裝和 3D 模型 |
|---|---|---|
| SOIC (DFG) | 4 | Ultra Librarian |
訂購和質量
包含信息:
- RoHS
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- 器件標識
- 引腳鍍層/焊球材料
- MSL 等級/回流焊峰值溫度
- MTBF/時基故障估算
- 材料成分
- 鑒定摘要
- 持續(xù)可靠性監(jiān)測
包含信息:
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- 封裝廠地點
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