數(shù)據(jù)表
SN54SC1G175-SEP
- VID V62/26610
- 輻射 - 總電離劑量 (TID):
- TID 特征值高達 50krad (Si)
- TID 性能保證高達 30krad(Si)
- 每個晶圓批次的輻射批次驗收測試 (RLAT) 高達 30krad(Si)
- 輻射 - 單粒子效應(yīng) (SEE):
- 在 125°C 下,單粒子鎖定 (SEL) 抗擾度高達 50MeV-cm2/mg
- 單粒子瞬變 (SET) 額定值高達 LET = 50MeV-cm2/mg
-
1.2V 至 5.5V 的寬工作電壓范圍
- 5.5V 容限輸入引腳
- 支持標準引腳排列
- 速率高達 150Mbps,具有 5V 或 3.3V VCC
- 閂鎖性能超過 100mA,符合 JESD 78 規(guī)范
- 增強型航天塑料:
- 支持國防與航空航天應(yīng)用
- 受控基線
- Au 鍵合線和 NiPdAu 鉛涂層
- 符合 NASA ASTM E595 釋氣規(guī)格要求
- 制造、封裝測試一體化基地
- 延長了產(chǎn)品生命周期
- 產(chǎn)品可追溯性
SN54SC1G175-SEP 器件是一款單路 D 型觸發(fā)器,具有異步清零 (CLR) 輸入。CLR 為高電平時,輸入引腳 (D) 上的數(shù)據(jù)將在時鐘 (CLK) 的上升沿傳輸?shù)捷敵鲆_ (Q)。CLR 為低電平時,將強制 Q 進入低電平狀態(tài),而不受時鐘邊沿和 D 引腳數(shù)據(jù)的影響。
技術(shù)文檔
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查看全部 4 | 頂層文檔 | 類型 | 標題 | 格式選項 | 下載最新的英語版本 | 日期 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | 數(shù)據(jù)表 | 具有異步清零功能的 SN54SC1G175-SEP 單路 D 型觸發(fā)器 數(shù)據(jù)表 | PDF | HTML | 2026年 1月 26日 | ||
| * | 輻射與可靠性報告 | SN54SC1G175-SEP Production Flow and Reliability Report | PDF | HTML | 2026年 2月 6日 | ||
| * | 輻射與可靠性報告 | SN54SC1G175-SEP Single-Event Effects (SEE) Radiation Report | PDF | HTML | 2026年 2月 6日 | ||
| * | 輻射與可靠性報告 | SN54SC1G175-SEP Total Ionizing Dose (TID) Report | 2026年 2月 6日 |
設(shè)計與開發(fā)
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評估板
5-8-LOGIC-EVM — 支持 5 至 8 引腳 DCK、DCT、DCU、DRL 和 DBV 封裝的通用邏輯評估模塊
靈活的 EVM 設(shè)計用于支持具有 5 至 8 引腳數(shù)且采用 DCK、DCT、DCU、DRL 或 DBV 封裝的任何器件。
用戶指南: PDF
| 封裝 | 引腳 | CAD 符號、封裝和 3D 模型 |
|---|---|---|
| SOT-23 (DBV) | 6 | Ultra Librarian |
訂購和質(zhì)量
包含信息:
- RoHS
- REACH
- 器件標識
- 引腳鍍層/焊球材料
- MSL 等級/回流焊峰值溫度
- MTBF/時基故障估算
- 材料成分
- 鑒定摘要
- 持續(xù)可靠性監(jiān)測
包含信息:
- 制造廠地點
- 封裝廠地點