數(shù)據(jù)表
SN54SC6T14-SEP
- 提供供應(yīng)商項(xiàng)目圖,VID V62/24618
- 電離輻射總劑量額定值為 30krad(Si)
- 每個(gè)晶圓批次的輻射批次驗(yàn)收測(cè)試電離輻射總劑量 (TID RLAT) 額定值高達(dá) 30krad (Si)
- 單粒子效應(yīng) (SEE) 特性:
- 單粒子鎖定 (SEL) 對(duì)于線(xiàn)性能量傳遞 (LET) 的抗擾度 = 43MeV-cm2/mg
- 單粒子瞬變 (SET) 額定值為 43MeV-cm2/mg
- 1.2V 至 5.5V 的寬工作電壓范圍
- 5/3.3/2.5/1.8/1.2V VCC 單電源電壓轉(zhuǎn)換門(mén)
- TTL 兼容輸入:
- 升壓轉(zhuǎn)換:
- 1.8V – 輸入為 1.2V
- 2.5V – 輸入為 1.8V
- 3.3V – 輸入為 1.8V、2.5V
- 5.0V – 輸入為 2.5V、3.3V
- 降壓轉(zhuǎn)換:
-
1.2V – 輸入為 1.8V、2.5V、3.3V、5.0V
- 1.8V – 輸入為 2.5V、3.3V、5.0V
- 2.5V – 輸入為 3.3V、5.0V
- 3.3V – 輸入為 5.0V
-
- 升壓轉(zhuǎn)換:
- TTL 兼容輸入:
- 5.5V 容限輸入引腳
- 5V 時(shí),輸出驅(qū)動(dòng)高達(dá) 25mA
- 閂鎖性能超過(guò) 250mA,符合 JESD 17 規(guī)范
- 增強(qiáng)型航天塑料 (SEP)
- 受控基線(xiàn)
- 金鍵合線(xiàn)
- NiPdAu 鉛涂層
- 一個(gè)封裝測(cè)試廠(chǎng)
- 一個(gè)制造基地
- 軍用級(jí)(-55°C 到 125°C)溫度范圍
- 延長(zhǎng)了產(chǎn)品生命周期
- 產(chǎn)品可追溯性
- 符合 NASAs ASTM E595 釋氣規(guī)格要求
SN54SC6T14-SEP 器件包含六個(gè)具有施密特觸發(fā)輸入的獨(dú)立反相器且支持?jǐn)U展電壓運(yùn)行,可實(shí)現(xiàn)電平轉(zhuǎn)換。每個(gè)邏輯門(mén)以正邏輯執(zhí)行布爾函數(shù) Y = A。輸出電平以電源電壓 (VCC) 為基準(zhǔn),并支持 1.2V、1.8V、2.5V、3.3V 和 5V CMOS 電平。
該輸入經(jīng)設(shè)計(jì),具有較低閾值電路,支持較低電壓 CMOS 輸入的升壓轉(zhuǎn)換(例如 1.2V 輸入轉(zhuǎn)換為 1.8V 輸出或 1.8V 輸入轉(zhuǎn)換為 3.3V 輸出)。此外,5V 容限輸入引腳可實(shí)現(xiàn)降壓轉(zhuǎn)換(例如 3.3V 至 2.5V 輸出)。
技術(shù)文檔
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評(píng)估板
14-24-LOGIC-EVM — 采用 14 引腳至 24 引腳 D、DB、DGV、DW、DYY、NS 和 PW 封裝的邏輯產(chǎn)品通用評(píng)估模塊
14-24-LOGIC-EVM 評(píng)估模塊 (EVM) 設(shè)計(jì)用于支持采用 14 引腳至 24 引腳 D、DW、DB、NS、PW、DYY 或 DGV 封裝的任何邏輯器件。
參考設(shè)計(jì)
TIDA-050088 — 適用于 Versal AI Edge 的抗輻射電源參考設(shè)計(jì)
這是一款面向 AMD Versal? AI Edge XQRVE2302 的抗輻射電源架構(gòu)參考設(shè)計(jì)。Versal Edge 是一款適用于太空應(yīng)用的自適應(yīng)片上系統(tǒng) (SoC),能夠以小巧外形實(shí)現(xiàn)高性能。要在太空環(huán)境中充分發(fā)揮該設(shè)計(jì)的性能,穩(wěn)健的電力輸送至關(guān)重要。該電源設(shè)計(jì)采用多個(gè)器件為各電源軌供電,并配備序列發(fā)生器以實(shí)現(xiàn)電源軌的有序啟動(dòng)與監(jiān)控。
設(shè)計(jì)指南: PDF
| 封裝 | 引腳 | CAD 符號(hào)、封裝和 3D 模型 |
|---|---|---|
| TSSOP (PW) | 14 | Ultra Librarian |
訂購(gòu)和質(zhì)量
包含信息:
- RoHS
- REACH
- 器件標(biāo)識(shí)
- 引腳鍍層/焊球材料
- MSL 等級(jí)/回流焊峰值溫度
- MTBF/時(shí)基故障估算
- 材料成分
- 鑒定摘要
- 持續(xù)可靠性監(jiān)測(cè)
包含信息:
- 制造廠(chǎng)地點(diǎn)
- 封裝廠(chǎng)地點(diǎn)