SN74CBTLV3257-Q1

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具有局部斷電模式的汽車級 3.3V、2:1 (SPDT)、4 通道模擬開關(guān)

產(chǎn)品詳情

Protocols Analog, I2C, I2S, JTAG, RGMII, SPI, TDM, UART Configuration 2:1 SPDT Number of channels 4 Bandwidth (MHz) 200 Supply voltage (max) (V) 3.6 Supply voltage (min) (V) 2.3 Ron (typ) (mΩ) 5000 Input/output voltage (min) (V) 0 Input/output voltage (max) (V) 3.6 ESD HBM (typ) (kV) 2 Operating temperature range (°C) -40 to 125 Input/output continuous current (max) (mA) 128 COFF (typ) (pF) 5.5 Ron (max) (mΩ) 40000 VIH (min) (V) 2 VIL (max) (V) 0.8 Rating Automotive
Protocols Analog, I2C, I2S, JTAG, RGMII, SPI, TDM, UART Configuration 2:1 SPDT Number of channels 4 Bandwidth (MHz) 200 Supply voltage (max) (V) 3.6 Supply voltage (min) (V) 2.3 Ron (typ) (mΩ) 5000 Input/output voltage (min) (V) 0 Input/output voltage (max) (V) 3.6 ESD HBM (typ) (kV) 2 Operating temperature range (°C) -40 to 125 Input/output continuous current (max) (mA) 128 COFF (typ) (pF) 5.5 Ron (max) (mΩ) 40000 VIH (min) (V) 2 VIL (max) (V) 0.8 Rating Automotive
TSSOP (PW) 16 32 mm2 5 x 6.4
  • 兩個(gè)端口之間具有 5Ω 開關(guān)連接
  • 支持在數(shù)據(jù) I/O 端口進(jìn)行軌到軌開關(guān)
  • Ioff 支持局部斷電模式運(yùn)行
  • 閂鎖性能超過 100mA,符合 JESD 78 II 類規(guī)范的要求
  • ESD 保護(hù)性能超過 JESD 22 規(guī)范要求
    • 2000V 人體放電模型 (A114-A)
    • 200V 機(jī)器放電模型 (A115-A)
  • 兩個(gè)端口之間具有 5Ω 開關(guān)連接
  • 支持在數(shù)據(jù) I/O 端口進(jìn)行軌到軌開關(guān)
  • Ioff 支持局部斷電模式運(yùn)行
  • 閂鎖性能超過 100mA,符合 JESD 78 II 類規(guī)范的要求
  • ESD 保護(hù)性能超過 JESD 22 規(guī)范要求
    • 2000V 人體放電模型 (A114-A)
    • 200V 機(jī)器放電模型 (A115-A)

SN74CBTLV3257-Q1 器件是一款 4 位、2:1 高速 FET 多路復(fù)用器/多路解復(fù)用器。此開關(guān)具有低導(dǎo)通狀態(tài)電阻,能夠以最短的傳播延遲建立連接。

選擇 (S) 輸入端控制數(shù)據(jù)流。當(dāng)輸出使能 (OE) 輸入端為高電平時(shí),F(xiàn)ET 多路復(fù)用器/多路解復(fù)用器將被禁用。

該器件專用于使用 Ioff 的局部斷電應(yīng)用。Ioff 特性確保在關(guān)斷時(shí)防止損壞電流通過器件回流。該器件可在關(guān)斷時(shí)提供隔離。

為了確保加電或斷電期間的高阻抗?fàn)顟B(tài),OE 應(yīng)通過一個(gè)上拉電阻器連接至 VCC;該電阻器的最小值由驅(qū)動(dòng)器的電流灌入能力來決定。

SN74CBTLV3257-Q1 器件是一款 4 位、2:1 高速 FET 多路復(fù)用器/多路解復(fù)用器。此開關(guān)具有低導(dǎo)通狀態(tài)電阻,能夠以最短的傳播延遲建立連接。

選擇 (S) 輸入端控制數(shù)據(jù)流。當(dāng)輸出使能 (OE) 輸入端為高電平時(shí),F(xiàn)ET 多路復(fù)用器/多路解復(fù)用器將被禁用。

該器件專用于使用 Ioff 的局部斷電應(yīng)用。Ioff 特性確保在關(guān)斷時(shí)防止損壞電流通過器件回流。該器件可在關(guān)斷時(shí)提供隔離。

為了確保加電或斷電期間的高阻抗?fàn)顟B(tài),OE 應(yīng)通過一個(gè)上拉電阻器連接至 VCC;該電阻器的最小值由驅(qū)動(dòng)器的電流灌入能力來決定。

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* 數(shù)據(jù)表 SN74CBTLV3257-Q1 低壓 4 位 2:1 FET 多路復(fù)用器/多路解復(fù)用器 數(shù)據(jù)表 PDF | HTML 英語版 PDF | HTML 2025年 12月 31日
選擇指南 Logic Guide (Rev. AC) PDF | HTML 2025年 11月 13日
選擇指南 Little Logic Guide 2018 (Rev. G) 2018年 7月 6日
應(yīng)用手冊 How to Select Little Logic (Rev. A) 2016年 7月 26日
應(yīng)用手冊 Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
選擇指南 邏輯器件指南 2014 (Rev. AA) 最新英語版本 (Rev.AC) PDF | HTML 2014年 11月 17日
選擇指南 小尺寸邏輯器件指南 (Rev. E) 最新英語版本 (Rev.G) 2012年 7月 16日
用戶指南 LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
更多文獻(xiàn)資料 Digital Bus Switch Selection Guide (Rev. A) 2004年 11月 10日
產(chǎn)品概述 Design Summary for WCSP Little Logic (Rev. B) 2004年 11月 4日
應(yīng)用手冊 Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
用戶指南 Signal Switch Data Book (Rev. A) 2003年 11月 14日
應(yīng)用手冊 Bus FET Switch Solutions for Live Insertion Applications 2003年 2月 7日
應(yīng)用手冊 Texas Instruments Little Logic Application Report 2002年 11月 1日
應(yīng)用手冊 TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002年 8月 29日
更多文獻(xiàn)資料 Standard Linear & Logic for PCs, Servers & Motherboards 2002年 6月 13日
用戶指南 CBT (5-V) And CBTLV (3.3-V) Bus Switches Data Book (Rev. B) 1998年 12月 1日

設(shè)計(jì)和開發(fā)

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封裝 引腳 CAD 符號、封裝和 3D 模型
TSSOP (PW) 16 Ultra Librarian

訂購和質(zhì)量

包含信息:
  • RoHS
  • REACH
  • 器件標(biāo)識
  • 引腳鍍層/焊球材料
  • MSL 等級/回流焊峰值溫度
  • MTBF/時(shí)基故障估算
  • 材料成分
  • 鑒定摘要
  • 持續(xù)可靠性監(jiān)測
包含信息:
  • 制造廠地點(diǎn)
  • 封裝廠地點(diǎn)

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