SN74LVC4245A-EP

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增強(qiáng)型產(chǎn)品，具有三態(tài)輸出的八路總線收發(fā)器和 3.3V 至 5V 轉(zhuǎn)換器

產(chǎn)品詳情

Bits (#) 8 Data rate (max) (Mbps) 200 Topology Push-Pull Vin (min) (V) 4.5 Vin (max) (V) 5.5 Vout (min) (V) 2.7 Vout (max) (V) 5.5 Applications GPIO, JTAG, SPI, UART Features Output enable Prop delay (ns) 7.8 Technology family LVC Supply current (max) (mA) 0.13 Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -40 to 85
Bits (#) 8 Data rate (max) (Mbps) 200 Topology Push-Pull Vin (min) (V) 4.5 Vin (max) (V) 5.5 Vout (min) (V) 2.7 Vout (max) (V) 5.5 Applications GPIO, JTAG, SPI, UART Features Output enable Prop delay (ns) 7.8 Technology family LVC Supply current (max) (mA) 0.13 Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -40 to 85
TSSOP (PW) 24 49.92 mm2 7.8 x 6.4
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree
  • Bidirectional Voltage Translator
  • 5.5 V on A Port and 2.7 V to 3.6 V on B Port
  • Latch-Up Performance Exceeds 250 mA Per JESD 17
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 200-V Machine Model (A115-A)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)

Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree
  • Bidirectional Voltage Translator
  • 5.5 V on A Port and 2.7 V to 3.6 V on B Port
  • Latch-Up Performance Exceeds 250 mA Per JESD 17
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 200-V Machine Model (A115-A)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)

Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

This 8-bit (octal) noninverting bus transceiver contains two separate supply rails; B port has VCCB, which is set at 3.3 V, and A port has VCCA, which is set at 5 V. This allows for translation from a 3.3-V to a 5-V environment, and vice versa.

The SN74LVC4245A is designed for asynchronous communication between data buses. The device transmits data from the A bus to the B bus or from the B bus to the A bus, depending on the logic level at the direction-control (DIR) input. The output-enable (OE)\ input can be used to disable the device so the buses are effectively isolated.

The SN74LVC4245A pinout allows the designer to switch to a normal all-3.3-V or all-5-V 20-pin ’245 device without board re-layout. The designer uses the data paths for pins 2-11 and 14-23 of the SN74LVC4245A to align with the conventional ’245 pinout.

This 8-bit (octal) noninverting bus transceiver contains two separate supply rails; B port has VCCB, which is set at 3.3 V, and A port has VCCA, which is set at 5 V. This allows for translation from a 3.3-V to a 5-V environment, and vice versa.

The SN74LVC4245A is designed for asynchronous communication between data buses. The device transmits data from the A bus to the B bus or from the B bus to the A bus, depending on the logic level at the direction-control (DIR) input. The output-enable (OE)\ input can be used to disable the device so the buses are effectively isolated.

The SN74LVC4245A pinout allows the designer to switch to a normal all-3.3-V or all-5-V 20-pin ’245 device without board re-layout. The designer uses the data paths for pins 2-11 and 14-23 of the SN74LVC4245A to align with the conventional ’245 pinout.
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* 數(shù)據(jù)表 SN74LVC4245A-EP 數(shù)據(jù)表 2003年 12月 1日
* VID SN74LVC4245A-EP VID V6204664 2016年 6月 21日
* 輻射與可靠性報(bào)告 SN74LVC4245AIPWREP Reliability Report 2011年 8月 26日
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更多文獻(xiàn)資料 STANDARD LINEAR AND LOGIC FOR DVD/VCD PLAYERS 2002年 3月 27日
應(yīng)用手冊(cè) Migration From 3.3-V To 2.5-V Power Supplies For Logic Devices 1997年 12月 1日
應(yīng)用手冊(cè) Bus-Interface Devices With Output-Damping Resistors Or Reduced-Drive Outputs (Rev. A) 1997年 8月 1日
應(yīng)用手冊(cè) CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) 1997年 6月 1日
應(yīng)用手冊(cè) LVC Characterization Information 1996年 12月 1日
應(yīng)用手冊(cè) Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 1996年 10月 1日
應(yīng)用手冊(cè) Live Insertion 1996年 10月 1日
設(shè)計(jì)指南 Low-Voltage Logic (LVC) Designer's Guide 1996年 9月 1日
應(yīng)用手冊(cè) Understanding Advanced Bus-Interface Products Design Guide 1996年 5月 1日

設(shè)計(jì)與開發(fā)

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封裝 引腳 CAD 符號(hào)、封裝和 3D 模型
TSSOP (PW) 24 Ultra Librarian

訂購(gòu)和質(zhì)量

包含信息：
  • RoHS
  • REACH
  • 器件標(biāo)識(shí)
  • 引腳鍍層/焊球材料
  • MSL 等級(jí)/回流焊峰值溫度
  • MTBF/時(shí)基故障估算
  • 材料成分
  • 鑒定摘要
  • 持續(xù)可靠性監(jiān)測(cè)
包含信息：
  • 制造廠地點(diǎn)
  • 封裝廠地點(diǎn)

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