ZHCSKA0B September 2019 – June 2022 TMP390-Q1
PRODUCTION DATA
跳閘測(cè)試目的是,在進(jìn)行系統(tǒng)制造測(cè)試時(shí),無需讓 TMP390-Q1 經(jīng)歷成本高昂的 TMP390-Q1 組件和上拉電阻溫度驗(yàn)證。當(dāng) SETA 或 SETB 引腳設(shè)置為高邏輯電平時(shí),相關(guān)輸出變?yōu)榈碗娖?。?dāng)輸入引腳電平變?yōu)榈碗娖綍r(shí),輸出會(huì)回到跳閘測(cè)試前的狀態(tài)。跳閘測(cè)試不會(huì)影響器件的當(dāng)前狀態(tài)。邏輯高電平的跳閘測(cè)試信號(hào)應(yīng)保持在 0.8 × VDD 以上,邏輯低電平的跳閘測(cè)試信號(hào)應(yīng)保持在 0.2 × VDD 以下。
跳閘測(cè)試操作如圖 7-2。當(dāng)器件在不會(huì)導(dǎo)致相應(yīng)輸出跳閘的溫度下運(yùn)行時(shí),必須用一個(gè)撥動(dòng)開關(guān)來執(zhí)行跳閘測(cè)試。跳閘測(cè)試用于組裝后的量產(chǎn)測(cè)試,不得用作功能特性。
圖 7-2 TMP390-Q1 跳閘測(cè)試操作