ZHCSXK0B March 2022 – May 2025 TPS388R0-Q1
PRODUCTION DATA
- 1
- 1 特性
- 2 應(yīng)用
- 3 說明
- 4 器件比較
- 5 引腳配置和功能
- 6 規(guī)格
- 7 詳細(xì)說明
- 8 應(yīng)用和實施
- 9 器件和文檔支持
- 10修訂歷史記錄
- 11機械、封裝和可訂購信息
封裝選項
機械數(shù)據(jù) (封裝 | 引腳)
- RTE|16
散熱焊盤機械數(shù)據(jù) (封裝 | 引腳)
- RTE|16
訂購信息
7.4.2 TPS38800-Q1 上電
TPS38800-Q1/TPS388R0-Q1 上電時，可選擇執(zhí)行 BIST（取決于 TEST_CFG.AT_POR 寄存器位）；完成 BIST 并從 OTP 加載配置（由 ECC 提供輔助，支持 SEC-DED）后，I2C 和故障報告（通過 NIRQ）會立即變?yōu)榧せ顮顟B(tài)。
配置加載 ECC 和 BIST 結(jié)果的詳細(xì)信息在 TEST_INFO 寄存器中報告。
檢測到 ACT 上升沿后，TPS38800-Q1/TPS388R0-Q1 開始序列超時，其中通過自動屏蔽寄存器 AMSK_ON 選擇的輸入在欠壓高頻 (UVHF) 條件下開始屏蔽（禁用）中斷。所選輸入被屏蔽，直至輸入超過 MON OFF 閾值或序列超時到期。SLEEP 將被忽略，直到 ACT 為高電平并且序列超時已結(jié)束。然后，TPS38800-Q1/TPS388R0-Q1 將對 SLEEP 轉(zhuǎn)換執(zhí)行操作，以監(jiān)控/記錄睡眠進入/退出序列。
圖 7-12 TPS38800-Q1/TPS388R0-Q1 上電信令和內(nèi)部狀態(tài)BIST 完成可通過中斷或寄存器輪詢來檢測：
- 中斷：如果 IEN_TEST.BIST_C=1，會設(shè)置 INT_TEST.I_BIST_C 標(biāo)志并且 NIRQ 置為有效
- 輪詢：可以輪詢 VMON_STAT 寄存器來讀取 ST_BIST_C 位