ZHCSOQ5 june 2023 TPS389006
PRODUCTION DATA
執(zhí)行內(nèi)置自檢 (BIST)：
從 OTP 加載配置由 ECC（支持 SEC-DED）提供輔助。這是為了防止數(shù)據(jù)完整性問(wèn)題并更大程度地提高系統(tǒng)可用性。
在 BIST 期間，NIRQ 被置為無(wú)效（在故障情況下置為有效），輸入引腳被忽略，SYNC 為三態(tài)，并且 I2C 塊在 SDA 和 SCL 置為無(wú)效時(shí)處于不活動(dòng)狀態(tài)。BIST 包括器件測(cè)試，以滿足功能安全文檔中概述的功能安全目標(biāo)。一旦 BIST 成功完成，I2C 將立即激活，并且器件在從 OTP 加載配置數(shù)據(jù)后進(jìn)入空閑狀態(tài)。如果 BIST 失敗且/或 ECC 報(bào)告雙比特錯(cuò)誤檢測(cè)（DED；用于在從存儲(chǔ)器加載數(shù)據(jù)時(shí)檢測(cè)多個(gè)位翻轉(zhuǎn)），則 NIRQ 被置為有效，器件進(jìn)入失效防護(hù)狀態(tài)，并盡可能使 I2C 功能保持活動(dòng)狀態(tài)。TEST_INFO 寄存器可能會(huì)提供有關(guān)測(cè)試結(jié)果的附加信息。
BIST 成功/失敗時(shí)的詳細(xì)行為由 INT_TEST 和 IEN_TEST 寄存器控制。通過(guò)以下方式報(bào)告 BIST 結(jié)果：