ZHCSQE8H November 2022 – April 2025 TPS389C03-Q1
PRODUCTION DATA
如果 TEST_CFG.AT_POR=1，則在上電復(fù)位 (POR) 時(shí)執(zhí)行內(nèi)置自檢 (BIST)。
從 OTP 加載配置由 ECC（支持 SEC-DED）提供輔助。這是為了防止數(shù)據(jù)完整性問(wèn)題并更大程度地提高系統(tǒng)可用性。
在 BIST 期間，NIRQ 置為無(wú)效（在故障情況下置為有效），輸入引腳被忽略，并且 I2C 塊在 SDA 和 SCL 置為無(wú)效時(shí)處于不活動(dòng)狀態(tài)。BIST 包括滿足技術(shù)安全要求的器件測(cè)試。一旦 BIST 成功完成，I2C 將立即激活，并且器件在從 OTP 加載配置數(shù)據(jù)后進(jìn)入活動(dòng)狀態(tài)。如果 BIST 失敗和/或 ECC 報(bào)告雙重錯(cuò)誤檢測(cè) (DED)，NIRQ 置為低電平有效，NRST 置為低電平有效，器件進(jìn)入失效防護(hù)狀態(tài)。表 8-13 中的 TEST_INFO 寄存器提供有關(guān)測(cè)試覆蓋范圍和結(jié)果的信息。此外，看門狗和 ESM 也在邏輯 BIST 中進(jìn)行了介紹，并在 BIST_L 中進(jìn)行了驗(yàn)證。
BIST 成功/失敗時(shí)的詳細(xì)行為由 INT_TEST 和 IEN_TEST 寄存器控制。通過(guò)以下方式報(bào)告 BIST 結(jié)果：