ZHCSCV8A September 2014 – October 2014 TUSB1210-Q1
PRODUCTION DATA.
下列鏈接提供到 TI 社區(qū)資源的連接。 鏈接的內(nèi)容由各個分銷商“按照原樣”提供。 這些內(nèi)容并不構(gòu)成 TI 技術(shù)規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)且不一定反映 TI 的觀點;請見 TI 的使用條款。
E2E is a trademark of Texas Instruments.
All other trademarks are the property of their respective owners.

ESD 可能會損壞該集成電路。德州儀器 (TI) 建議通過適當(dāng)?shù)念A(yù)防措施處理所有集成電路。如果不遵守正確的處理措施和安裝程序 , 可能會損壞集成電路。
ESD 的損壞小至導(dǎo)致微小的性能降級 , 大至整個器件故障。 精密的集成電路可能更容易受到損壞 , 這是因為非常細微的參數(shù)更改都可能會導(dǎo)致器件與其發(fā)布的規(guī)格不相符。