ZHCUCD7 October 2024
LMG2640EVM-090 子卡上有多個(gè)測試點(diǎn),專為使用示波器進(jìn)行模擬和數(shù)字測量而設(shè)計(jì)。有關(guān)完整列表,請參閱表 2-1。Fault、PWM、EN 和 CS 測試點(diǎn)等數(shù)字測試點(diǎn)可用于調(diào)試系統(tǒng)并了解器件的工作原理。但請注意,預(yù)計(jì)會(huì)出現(xiàn)高電平信號振鈴。長布線將這些測試點(diǎn)連接起來以便于測量,但會(huì)引入在開關(guān)轉(zhuǎn)換期間表現(xiàn)為高頻噪聲的寄生效應(yīng)。這些測試點(diǎn)僅用于觀察目的,對于使用該子卡進(jìn)行功能調(diào)試非常有用。