ZHCUCM5 December 2024
LMG2650EVM-100 子卡上有多個(gè)測(cè)試點(diǎn),專為使用示波器進(jìn)行模擬和數(shù)字測(cè)量而設(shè)計(jì)。有關(guān)完整列表,請(qǐng)參閱表 2-1。PWM、EN 和 CS 測(cè)試點(diǎn)等數(shù)字測(cè)試點(diǎn)可用于調(diào)試系統(tǒng)并了解器件的工作原理。但請(qǐng)注意,預(yù)計(jì)會(huì)出現(xiàn)高電平信號(hào)振鈴。長(zhǎng)布線將這些測(cè)試點(diǎn)連接起來(lái)以便于測(cè)量,但會(huì)引入在開關(guān)轉(zhuǎn)換期間表現(xiàn)為高頻噪聲的寄生效應(yīng)。這些測(cè)試點(diǎn)僅用于觀察目的,對(duì)于使用該子卡進(jìn)行功能調(diào)試非常有用。
通過(guò)將示波器探頭移至關(guān)聯(lián)的器件引腳附近,對(duì)這些數(shù)字信號(hào)進(jìn)行測(cè)量可以減少寄生效應(yīng)和振鈴。尖端和接地筒方法極為精確,可消除意外的信號(hào)噪聲。