TPD4E110
- 為低壓輸入輸出 (IO) 接口提供系統(tǒng)級靜電放電 (ESD) 保護(hù)
- IO 電容值 0.45pF(典型值)
- IEC 61000-4-2 4 級
- ±12kV(接觸放電)
- ±15kV(空氣間隙放電)
- IEC 61000-4-5(浪涌):2.5A (8/20μs)
- 直流擊穿電壓 6.5V(最小值)
- 超低泄露電流 1nA(最大值)
- 低 ESD 鉗位電壓
- 工業(yè)溫度范圍:-40°C 至 125°C
- 最大限度減少空間的 0.8mm x 0.8mm DPW 封裝
應(yīng)用范圍
- USB 3.0
- HDMI 2.0
- 低壓差分信令 (LVDS)
- DisplayPort
- PCI Express 接口
- eSata 接口
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TPD4E110 是一款具有超低電容值的單向靜電放電 (ESD) 保護(hù)器件。 此器件由一個中央 ESD 鉗位組成,并且在每個通道中特有兩個隱藏的二極管,以減少電容負(fù)載。 每條通道額定 ESD 沖擊消散值高于 IEC61000-4-2 4 級國際標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的最高水平。 TPD4E110 的超低負(fù)載電容值使得此器件非常適合于保護(hù)高速信號引腳。
技術(shù)文檔
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查看全部 6 | 類型 | 標(biāo)題 | 下載最新的英語版本 | 日期 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | 數(shù)據(jù)表 | TPD4E110 4 通道保護(hù)解決方案,用于超高速(高達(dá) 6GBPS)接口 數(shù)據(jù)表 (Rev. B) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.B) | PDF | HTML | 2014年 5月 12日 |
| 選擇指南 | System-Level ESD Protection Guide (Rev. E) | 2025年 8月 5日 | ||||
| 應(yīng)用手冊 | 用于 USB 接口的 ESD 和浪涌保護(hù) (Rev. B) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.B) | PDF | HTML | 2024年 1月 23日 | |
| 應(yīng)用簡報(bào) | 針對 HDMI 應(yīng)用的 ESD 保護(hù) (Rev. A) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.A) | PDF | HTML | 2023年 11月 9日 | |
| 應(yīng)用手冊 | ESD 包裝和布局指南 (Rev. B) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.B) | PDF | HTML | 2022年 9月 14日 | |
| 白皮書 | Designing USB for short-to-battery tolerance in automotive environments | 2016年 2月 10日 |
設(shè)計(jì)和開發(fā)
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評估板
ESDEVM — 適用于 ESD 二極管封裝(包括 0402、0201 等)的通用評估模塊
靜電敏感器件 (ESD) 評估模塊 (EVM) 是用于 TI 大部分 ESD 產(chǎn)品系列的開發(fā)平臺。為了測試任何型號的器件,該電路板支持所有傳統(tǒng)的 ESD 封裝結(jié)構(gòu)。器件可以焊接到相應(yīng)封裝結(jié)構(gòu),然后進(jìn)行測試。如果是典型的高速 ESD 二極管,則應(yīng)采用阻抗受控布局來獲取 S 參數(shù)并剝離電路板引線。如果是非高速 ESD 二極管,則應(yīng)采用有布線連接到測試點(diǎn)的封裝結(jié)構(gòu),以便輕松運(yùn)行直流測試,例如擊穿電壓、保持電壓、漏電流等。該電路板布局布線還可以通過將信號引腳短接至信號所在的位置,輕松地將任何器件引腳連接到電源 (VCC) 或地。
| 封裝 | 引腳 | CAD 符號、封裝和 3D 模型 |
|---|---|---|
| X2SON (DPW) | 4 | Ultra Librarian |
訂購和質(zhì)量
包含信息:
- RoHS
- REACH
- 器件標(biāo)識
- 引腳鍍層/焊球材料
- MSL 等級/回流焊峰值溫度
- MTBF/時(shí)基故障估算
- 材料成分
- 鑒定摘要
- 持續(xù)可靠性監(jiān)測
包含信息:
- 制造廠地點(diǎn)
- 封裝廠地點(diǎn)
推薦產(chǎn)品可能包含與 TI 此產(chǎn)品相關(guān)的參數(shù)、評估模塊或參考設(shè)計(jì)。