ZHCSYI4 June 2025 LMG2656
PRODUCTION DATA
圖 6-1 展示了用于測量 GaN 功率 FET 開關(guān)參數(shù)的電路。該電路用作雙脈沖測試儀。有關(guān)雙脈沖測試儀的詳細信息,請參閱外部基準(zhǔn)。該電路置于升壓配置中,用于測量低側(cè) GaN 開關(guān)參數(shù)。該電路置于降壓配置中,用于測量高側(cè) GaN 開關(guān)參數(shù)。不在每個配置(升壓中的高側(cè)和降壓中的低側(cè))中測量 GaN FET 充當(dāng)雙脈沖測試儀二極管,并在關(guān)斷狀態(tài)第三象限導(dǎo)通模式下實現(xiàn)電感器電流循環(huán)。表 6-1 展示了每個配置的詳細信息。
| 配置 | 待測試 GaN FET | 充當(dāng)二極管的 GaN FET | SBOOST | SBUCK | VINL | VINH | VGDH |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 升壓 | 低側(cè) | 高側(cè) | 閉合 | 開路 | 雙脈沖波形 | 0V | 0V |
| 降壓 | 高側(cè) | 低側(cè) | 開路 | 閉合 | 0V | 雙脈沖波形 | 0V |
| 降壓 | 高側(cè) | 低側(cè) | 開路 | 閉合 | 0V | 0V | 雙脈沖波形 |
圖 6-2 展示了 GaN 功率 FET 開關(guān)參數(shù)。
GaN 功率 FET 導(dǎo)通轉(zhuǎn)換有三個時間分量:漏極電流導(dǎo)通延遲時間 td(on)(Idrain、導(dǎo)通延遲時間 td(on) 和導(dǎo)通上升時間 tr(on)。請注意,導(dǎo)通上升時間與 VDS 80% 至 20% 下降時間相同。所有三個導(dǎo)通時間分量都是 RDRVx 引腳設(shè)置的函數(shù)。
GaN 功率 FET 關(guān)斷轉(zhuǎn)換具有兩個時間分量:關(guān)斷延遲時間 td(off) 和關(guān)斷下降時間 tf(off)。請注意,關(guān)斷下降時間與 VDS 20% 至 80% 上升時間相同。關(guān)斷時間分量與 RDRVx 引腳設(shè)置無關(guān),但在很大程度上取決于 LHB 電流。
導(dǎo)通壓擺率是根據(jù)導(dǎo)通上升時間電壓差 (240V) 測量,可獲得對 EMI 設(shè)計很有用的壓擺率。RDRVx 引腳用于設(shè)定壓擺率。