ZHCS246E May 2011 – April 2015 TMP006
PRODUCTION DATA.
此器件性能由信號、響應(yīng)度和傳感器噪聲表示。此傳感器噪聲可由原始傳感器電壓表示,或者由具有已知光傳遞函數(shù)的基準(zhǔn)系統(tǒng)表示。
為了進行比較,NETD 被指定給沒有透鏡的基準(zhǔn)系統(tǒng),以及具有一個理想(非吸收)F/1 透鏡的基準(zhǔn)系統(tǒng)。
Table 12 列出了快速訪問鏈接。范圍包括技術(shù)文檔、支持與社區(qū)資源、工具和軟件,并且可以快速訪問樣片或購買鏈接。
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ESD 可能會損壞該集成電路。德州儀器 (TI) 建議通過適當(dāng)?shù)念A(yù)防措施處理所有集成電路。如果不遵守正確的處理措施和安裝程序 , 可能會損壞集成電路。
ESD 的損壞小至導(dǎo)致微小的性能降級 , 大至整個器件故障。 精密的集成電路可能更容易受到損壞 , 這是因為非常細微的參數(shù)更改都可能會導(dǎo)致器件與其發(fā)布的規(guī)格不相符。