ZHCSY58A May 2025 – October 2025 DP83826AE , DP83826AI
PRODUCTION DATA
請參考 PDF 數(shù)據(jù)表獲取器件具體的封裝圖。
DP83826Ax 包含內(nèi)部 PRBS 內(nèi)置自檢 (BIST) 電路，可適應(yīng)電路內(nèi)測試和診斷。BIST 電路可用于測試發(fā)送和接收數(shù)據(jù)路徑的完整性。BIST 可以通過兩個(gè)內(nèi)部環(huán)回（數(shù)字或模擬）執(zhí)行，也可以通過利用電纜固定裝置的外部環(huán)回進(jìn)行。BIST 采用真實(shí)數(shù)據(jù)包和數(shù)據(jù)包間間隙 (IPG) 格式來模擬線路上的假隨機(jī)數(shù)據(jù)傳輸場景。BIST 可實(shí)現(xiàn)對數(shù)據(jù)包長度和 IPG 的完全控制。
BIST 數(shù)據(jù)包長度由 BIST 控制和狀態(tài)寄存器 2（BICSR2，地址 0x001C）中的位 [10:0] 進(jìn)行控制。BIST IPG 長度由 BIST 控制和狀態(tài)寄存器 1（BICSR1，地址 0x001B）中的位 [7:0] 進(jìn)行控制。
BIST 采用獨(dú)立的發(fā)送和接收路徑，且發(fā)送時(shí)鐘能夠生成假隨機(jī)序列的連續(xù)流。該器件為 BIST 生成一個(gè) 15 位假隨機(jī)序列。接收到的數(shù)據(jù)將與生成的假隨機(jī)數(shù)據(jù)進(jìn)行比較以確定通過/失敗狀態(tài)。PRBS 校驗(yàn)器接收到的錯(cuò)誤字節(jié)數(shù)存儲在 BICSR1 的位 [15:8] 中?？梢詮?BIST 控制寄存器（BISCR，地址 0x0016）讀取 PRBS 鎖定狀態(tài)和同步。
使用 BISCR 中的位 [14] 可以將 PRBS 測試置于連續(xù)模式。在連續(xù)模式下，當(dāng) BIST 錯(cuò)誤計(jì)數(shù)器達(dá)到最大值時(shí)，此計(jì)數(shù)器再次從零開始計(jì)數(shù)。要讀取 BIST 錯(cuò)誤計(jì)數(shù)，必須將 BICSR1 中的位 [15] 設(shè)置為“1”。該設(shè)置鎖定 BIST 錯(cuò)誤的當(dāng)前值，以供讀取。設(shè)置第 [15] 位會清除 BIST 錯(cuò)誤計(jì)數(shù)器。