ZHCSNL1A December 2024 – March 2025 TAS6754-Q1
PRODUCTION DATA
汽車(chē)級(jí) EMI 性能取決于集成電路設(shè)計(jì)是否仔細(xì)以及系統(tǒng)級(jí)設(shè)計(jì)是否良好??刂齐姶鸥蓴_ (EMI) 源是設(shè)計(jì)的所有方面的主要考慮因素。由于封裝上的引線較短,因此該設(shè)計(jì)具有很小的寄生電感,從而降低了電流從芯片流向系統(tǒng) PCB 時(shí)產(chǎn)生的 EMI。每個(gè)通道還以不同相位工作。該設(shè)計(jì)還采用了針對(duì)導(dǎo)致 EMI 的輸出轉(zhuǎn)換進(jìn)行了優(yōu)化的電路。
建議使用固態(tài)接地層以優(yōu)化 EMI。盡管 TAS6754-Q1 EVM 布局是一個(gè)不錯(cuò)的著手點(diǎn),但不建議將 EVM 布局用于 EMC 測(cè)試。建議進(jìn)一步進(jìn)行板級(jí)優(yōu)化,以保證滿足 EMI 要求。第一個(gè)引用請(qǐng)參見(jiàn) 圖 8-2