ZHCSNL3C December 2021 – November 2025 TPSM8D6C24
PRODUCTION DATA
控制器內(nèi)核中的遙測子系統(tǒng)支持直接測量以下參數(shù):
ADC 支持內(nèi)部滾動窗口期平均,滾動窗口最多可進行 16 次先前的測量,從而準確測量這些關(guān)鍵系統(tǒng)參數(shù)。每次 ADC 轉(zhuǎn)換需要不到 500μs,從而允許在 2ms 內(nèi)更新每個遙測值。
電流檢測遙測功能可在每個低側(cè) FET 導通時間的開始和結(jié)束時檢測低側(cè) FET 電流,并對這兩個測量值求平均值,以監(jiān)測平均電感器電流。如果電感器電流在低側(cè) FET 導通時間內(nèi)呈非線性(例如當電感器的工作電流高于其飽和電流時),則會報告偏高電流。