此選項卡僅用于顯示信息。用戶不能在此選項卡上進(jìn)行選擇。

“Totals - ISO26262”選項卡包含基于先前選項卡中的選項得出的芯片級 FMEDA 指標(biāo)結(jié)果。此選項卡匯總了 ISO 26262 功能安全標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的各項指標(biāo)。表格頂部分項顯示了芯片永久性故障、芯片瞬態(tài)故障和封裝故障的總時基故障和診斷覆蓋率，最后顯示每一行的故障總和。提供了以下信息：

• 總時基故障（原始時基故障）：使用所述的基礎(chǔ)時基故障模型在“Mission Profile Tailoring”選項卡中輸入的環(huán)境條件下得出的器件總基礎(chǔ)故障率。
• 安全相關(guān)時基故障：總時基故障的一個子集，其中只包括在“Pin Level Tailoring”和“Function and Diag Tailoring”選項卡上指示為安全相關(guān)的設(shè)計塊或器件引腳。
• 硬件隨機(jī)失效概率指標(biāo) (PMHF)（以 FIT 為單位）：“Pin Level Tailoring”和“Function and Diag Tailoring”選項卡中的診斷選項直接影響此百分比。
• 單點故障指標(biāo) - SPFM：用于檢測和防止單點故障的覆蓋百分比。
• 潛在故障指標(biāo) - LFM：用于檢測和防止?jié)撛诠收系母采w百分比。

還有一些基于 ISO 26262 標(biāo)準(zhǔn)中術(shù)語的中間計算：

• 總故障 (λ)
• 安全相關(guān)故障總計 (λ_SR)
• 非安全相關(guān)故障總計 (λ_nSR)
• 安全故障總計 (λ_S)
• 非安全故障總計 (λ_nS)
• 可能違反 SG 的故障總計 (λ_PVSG)
• 單點故障總計 (λ_SPF)
• 殘余故障總計 (λ_RF)
• 多點初級【非 PVSG】故障總計 (λ_MPFPrimary)
• 多點次級 [PVSG] 故障總計 (λ_MPFSecondary)
• 多點檢測故障總計 (λ_{MPF_det})
• 多點潛在故障總計 (λ_MPF,l)

感知故障概念不適用于半導(dǎo)體級別，因為在此級別的分析中無法考慮驅(qū)動器的故障檢測能力。