ZHDU003 December 2025
| 端子和測(cè)試點(diǎn) | 說(shuō)明 |
|---|---|
| J1 | USB-C 終端 |
| J2 | 交流電壓輸入終端 |
| L | 交流輸入的測(cè)試點(diǎn) – 線(xiàn)路 |
| N | 交流輸入的測(cè)試點(diǎn) – 中性 |
| PGND、PGND1 | 初級(jí)接地測(cè)試點(diǎn) |
| VBLK | 大容量電容器電壓的測(cè)試點(diǎn) |
| FB | FB 引腳的測(cè)試點(diǎn) |
| VCC | VCC 引腳的測(cè)試點(diǎn) |
| HV | HV 引腳的測(cè)試點(diǎn) |
| SRC | SR FET 源極測(cè)試點(diǎn) |
| GATE | SR FET 柵極測(cè)試點(diǎn) |
| SGND | 次級(jí)接地測(cè)試點(diǎn) |
| VO | 轉(zhuǎn)換器輸出電壓測(cè)試點(diǎn) |
| VBUS | 輸出側(cè)總線(xiàn)電壓測(cè)試點(diǎn) |
| RTN | 輸出側(cè)返回線(xiàn)路的測(cè)試點(diǎn) |