ZHCSUJ6A February 2025 – December 2025 LMG3650R025
PRODMIX
- 1
- 1 特性
- 2 應(yīng)用
- 3 說明
- 4 引腳配置和功能
- 5 規(guī)格
- 6 參數(shù)測量信息
- 7 詳細(xì)說明
- 8 應(yīng)用和實(shí)施
- 9 器件和文檔支持
- 10修訂歷史記錄
- 11機(jī)械、封裝和可訂購信息
封裝選項(xiàng)
機(jī)械數(shù)據(jù) (封裝 | 引腳)
- KLA|9
散熱焊盤機(jī)械數(shù)據(jù) (封裝 | 引腳)
訂購信息
7.3.4 過流和短路保護(hù)
驅(qū)動器可檢測兩種類型的電流故障：過流及短路。
過流保護(hù) (OCP) 電路可監(jiān)測漏極電流，并將該電流信號與內(nèi)部設(shè)定的限值 IT(OC) 進(jìn)行比較。檢測到過流時，LMG365xR025 會執(zhí)行逐周期保護(hù)，如逐周期過流保護(hù)操作所示。在此模式下，當(dāng)漏極電流超過 IT(OC) 加上延遲 toff(OC) 時，GaN 器件關(guān)斷，但過流信號在 IN 引腳信號變?yōu)榈碗娖胶笄宄?/p>
在下一個周期中，GaN 器件正常導(dǎo)通。如果穩(wěn)態(tài)運(yùn)行電流低于 OCP 電平，但瞬態(tài)響應(yīng)仍可以達(dá)到電流限制，而電路運(yùn)行無法暫停，則可以使用逐周期功能。逐周期功能還可防止 GaN 器件因過流引起的導(dǎo)通損耗而過熱。此外，OCP 水平隨結(jié)溫動態(tài)調(diào)整，內(nèi)部設(shè)定的限值 IT(OC) 在較低溫度下較高，并隨著溫度的升高而降低，如規(guī)格中所述，基于方程式 3。動態(tài)調(diào)節(jié)允許客戶用較高的電流在較低溫度下運(yùn)行器件。
短路保護(hù)基于飽和度檢測 (de-sat)，它監(jiān)測漏源電壓 VDS，并將電壓與內(nèi)部設(shè)置的限值 VT(Idsat) 進(jìn)行比較。飽和會損壞 GaN，如果繼續(xù)在這種條件下運(yùn)行，會導(dǎo)致故障。如果檢測到飽和，GaN 器件會被鎖閉。在高電流下關(guān)斷器件會導(dǎo)致明顯電壓過沖。因此，當(dāng)從飽和狀態(tài)關(guān)閉時，設(shè)備會通過故意減速的驅(qū)動器關(guān)閉，以在關(guān)閉事件期間實(shí)現(xiàn)較低的過沖電壓和振鈴。即使在硬短路情況下，這種快速響應(yīng)電路也有助于保護(hù) GaN 器件。在這種保護(hù)中，GaN 器件會關(guān)閉并保持關(guān)斷狀態(tài)，直到通過將 IN 引腳保持在低電平一段時間（在 規(guī)格 中定義）或切斷 VDD 的電源復(fù)位了故障。
出于安全考慮，OCP 允許逐周期運(yùn)行，而去飽和會將器件鎖存至復(fù)位。兩種故障都會在 FLT/RDRV 引腳上報告。
圖 圖 7-4 顯示了 OC 和去飽和保護(hù)的行為。在前兩個周期中，會在不觸發(fā)去飽和的情況下觸發(fā) OC 限制，因此會進(jìn)行逐周期保護(hù)。在第三個周期中會觸發(fā) OC 限制，但在 toff(OC) 內(nèi)，當(dāng) VDS 升至 VT(Idsat) 以上時，會觸發(fā)去飽和保護(hù)。由于觸發(fā)了去飽和保護(hù)，這會導(dǎo)致關(guān)斷和鎖存保護(hù)速度變慢。
圖 7-3 逐周期過流保護(hù)操作
圖 7-4 過流檢測與去飽和檢測