ZHCSUJ6A February 2025 – December 2025 LMG3650R025
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由于硅 FET 長(zhǎng)期占據(jù)功率開(kāi)關(guān)技術(shù)的主導(dǎo)地位,許多設(shè)計(jì)人員沒(méi)有意識(shí)到銘牌漏源電壓不能用作跨技術(shù)比較器件的等效點(diǎn)。硅 FET 的銘牌漏源電壓由雪崩擊穿電壓決定。GaN FET 的銘牌漏源電壓是根據(jù)對(duì)數(shù)據(jù)表規(guī)格的長(zhǎng)期遵從性設(shè)定的。
超過(guò)硅 FET 的銘牌漏源電壓可能會(huì)立即導(dǎo)致?lián)p壞或造成永久性損壞。同時(shí),GaN FET 的擊穿電壓遠(yuǎn)高于銘牌漏源電壓。例如,LMG365xR025 GaN 功率 FET 的擊穿漏源電壓超過(guò) 800V,這使得 LMG365xR025 能夠在超過(guò)相同銘牌額定硅 FET 的條件下運(yùn)行。
LMG365xR025 GaN 功率 FET 開(kāi)關(guān)功能借助 GaN 功率 FET 開(kāi)關(guān)功能一文進(jìn)行了說(shuō)明。該圖顯示了在開(kāi)關(guān)應(yīng)用中,LMG365xR025 GaN 功率 FET 在四個(gè)不同開(kāi)關(guān)周期內(nèi)的漏源電壓隨時(shí)間的變化情況。不對(duì)開(kāi)關(guān)頻率或占空比進(jìn)行任何聲明。前兩個(gè)周期顯示正常運(yùn)行,后兩個(gè)周期顯示在罕見(jiàn)的輸入電壓浪涌下運(yùn)行。LMG365xR025 GaN 功率 FET 旨在在零電壓開(kāi)關(guān) (ZVS) 或不連續(xù)導(dǎo)通模式 (DCM) 開(kāi)關(guān)條件下開(kāi)啟。
FET 處于導(dǎo)通狀態(tài)時(shí),每個(gè)周期都在 t0 之前開(kāi)始。在 t0 時(shí),GaN FET 關(guān)斷,寄生元件導(dǎo)致漏源電壓以高頻振鈴。高頻振鈴已經(jīng)減弱了 t1。在 t1 和 t2 之間,F(xiàn)ET 漏源電壓由開(kāi)關(guān)應(yīng)用的特性響應(yīng)設(shè)置。特性以一條平坦的線(平坦區(qū))顯示,但可以有其他響應(yīng)。在 t2 時(shí),GaN FET 導(dǎo)通。正常運(yùn)行時(shí),瞬態(tài)振鈴電壓限制為 650V,平坦電壓限制為 520V。對(duì)于罕見(jiàn)的浪涌事件,瞬態(tài)環(huán)電壓限制為 800V,平坦電壓限制為 720V。