5 負電流有源開路負載檢測

在 DRV89xx-Q1 器件的負電流有源 OLD 中，電流 OLD 閾值為負值 (I_{OLD_NEG})。負電流再循環(huán)通過同步整流中的電流再循環(huán) FET 發(fā)生。圖 5-1 顯示了 H 橋在正向驅動和使用同步整流時的運行情況。如果未使用負電流有源 OLD，器件可能會顯示假 OLD，因為通過電流再循環(huán) FET 進行再循環(huán)的電流為負值，并且小于另一個有源 OLD 診斷使用的正電流 OLD 閾值。當啟用負電流有源 OLD 時，流經電流再循環(huán) FET 的負電流不會顯示假 OLD 事件，因為現在使用了負電流有源 OLD 電流設置 (I_{OLD_NEG})。

圖 5-2 顯示了在 H 橋配置中，當負電流有源 OLD 未激活時假 OLD 的波形。在具有高側電流再循環(huán)的同步整流中，其中一個驅動 FET 始終處于導通狀態(tài)，而另一個驅動半橋的低側和高側 FET 以互補方式運行。最初，對于第一個 PWM 周期，所有 OLD 診斷都禁用，以顯示負載運行期間不同 FET 中的電流。如果在第二個 PWM 周期中啟用了有源 OLD 診斷，則器件會在因負電流而導致的高側 FET 電流再循環(huán)期間注冊假 OLD 標志。這一假標志將導致開關高側和低側 FET 均關斷。由于故障導致 OUT2_HS 關斷，因此，高側 FET 的體二極管（而非高側 FET）會導通，以完成返回電源的電流再循環(huán)路徑。

可通過啟用負電流 OLD 消除這一假 OLD 標志。圖 5-3 顯示了為開關半橋的電流再循環(huán) FET 啟用了負電流有源 OLD 電流設置 (I_{OLD_NEG})。由于電流閾值為負值，并且大于通過電流再循環(huán) FET 進行再循環(huán)的電流，因此防止了假 OLD 標志，并且開關半橋的 FET 在第二個 PWM 周期中未被禁用。通過將電流閾值設置為負值，可以檢測負載在同步整流期間斷開時的 OLD 標志。啟用負電流有源 OLD 不需要權衡。