在 DIAGNOSTIC 狀態(tài)下的上電期間，LDC5071-Q1 會進行大量自診斷和檢查（有關故障閾值，請參閱診斷；有關抗尖峰脈沖時間，請參閱開關特性）：
- EEPROM CRC 校驗：LDC5071-Q1 會計算 EEPROM 寄存器設置的 CRC 值，并將該值與記錄的預期 CRC 值進行比較。如果出現(xiàn) FAULT，LDC5071-Q1 會轉(zhuǎn)換至 DISABLED 狀態(tài)。
- LBIST 檢查：LDC5071-Q1 會針對數(shù)字邏輯執(zhí)行自動自檢模式。如果出現(xiàn) FAULT，LDC5071-Q1 會轉(zhuǎn)換至 DISABLED 狀態(tài)。
- ABIST 檢查：LDC5071-Q1 會針對故障監(jiān)測電路執(zhí)行自動自檢模式。如果出現(xiàn) FAULT，LDC5071-Q1 會轉(zhuǎn)換至 DISABLED 狀態(tài)。
- 傳感器接口 BIST 檢查：LDC5071-Q1 將自動測試模式應用于傳感器接口（LCIN、LCOUT、IN0P、IN0N、IN1P 和 IN1N）引腳，以檢查它們是否與 GND 或電池開路或短路。傳感器接口 BIST 檢查還會檢查傳感器線圈之間是否短路以及是否有任何線圈開路。LDC5071-Q1 還將檢查 AGC_EN 引腳上是否存在 RAGC_EN_AUTO 或 RPU_AGC_EN 指定的任何阻抗，并檢查 AGC_EN 引腳是否未短接至 GND。
- VREG 電容器損耗檢查：LDC5071-Q1 使用 VREG 電容器將內(nèi)部時間常量與外部時間常量進行比較（僅在 5V VCC 模式下）。僅在上電時執(zhí)行此檢查，如果器件從 FAULT 狀態(tài)轉(zhuǎn)換為 DIAGNOSTIC 狀態(tài)，則不執(zhí)行此檢查?？捎|發(fā)此故障的 VREG 引腳上的最大電容由 CLOSS_VREG 給出。
- LDC5071-Q1 啟用 LC 振蕩器并檢查 VUVL_AMP_LC、VOVH_AMP_LC、VUVL_CM_LC 和 VOVH_CM_LC 故障在 tLC_FLT_DT 內(nèi)是否消失。
- LDC5071-Q1 以交錯方式啟用 AFE、AGC 和輸出級。
- LDC5071-Q1 器件在特定的時間段內(nèi)復位所有檢查和故障，以允許所有內(nèi)部信號穩(wěn)定，然后啟動監(jiān)控故障
- LDC5071-Q1 轉(zhuǎn)換至 Normal 狀態(tài)，確保滿足 tPR?WR_ON 并且未檢測到任何其他故障。在 AUTO AGC 模式下，LDC5071-Q1 還會檢查 AGC 塊的輸出是否在 AGC_Target 內(nèi)。如果 AGC 塊不在 AGC_Target 內(nèi)，器件轉(zhuǎn)換至 DISABLED 狀態(tài)。