ZHCSZA7 December 2025 MCT8376Z-Q1
PRODUCTION DATA
在該模式下發(fā)生 OCP 事件后,所有 FET 都被禁用,并且 nFAULT 引腳被驅(qū)動(dòng)至低電平。FAULT、OCP 和相應(yīng)的 FET OCP 位在 SPI 寄存器中被鎖存為高電平。在 tRETRY 時(shí)間過后,器件將自動(dòng)重新開始正常運(yùn)行(驅(qū)動(dòng)器運(yùn)行且釋放 nFAULT 引腳)。在 tRETRY 時(shí)間過后,F(xiàn)AULT、OCP 和相應(yīng) FET 的 OCP 位保持鎖存,直到通過 CLR_FLT 位或 nSLEEP 復(fù)位脈沖 (tRST) 發(fā)出清除故障命令為止。
圖 7-39 過流保護(hù) - 自動(dòng)重試模式