ZHCAEV0 December 2024 ISO5451 , ISO5451-Q1 , ISO5452 , ISO5452-Q1 , ISO5851 , ISO5851-Q1 , ISO5852S , ISO5852S-EP , ISO5852S-Q1 , UCC21710 , UCC21710-Q1 , UCC21717-Q1 , UCC21732 , UCC21732-Q1 , UCC21736-Q1 , UCC21737-Q1 , UCC21738-Q1 , UCC21739-Q1 , UCC21750 , UCC21750-Q1 , UCC21755-Q1 , UCC21756-Q1 , UCC21759-Q1
使用基于電壓或基于電流的檢測(cè)方法檢測(cè)到短路或過(guò)流事件后,需要安全高效地關(guān)斷電源開(kāi)關(guān),以防止電源開(kāi)關(guān)損壞和系統(tǒng)故障。
如果開(kāi)關(guān)以較高的灌電流(幾安培或幾十安培)快速關(guān)斷,則開(kāi)關(guān)中將出現(xiàn)非常大的負(fù) di/dt。這個(gè) di/dt 與電源環(huán)路中的寄生電感耦合,會(huì)導(dǎo)致開(kāi)關(guān)上的電壓升高。該 VCE/VDS 過(guò)沖可能達(dá)到數(shù)百伏,可能會(huì)引發(fā)電源開(kāi)關(guān)過(guò)壓并導(dǎo)致電源開(kāi)關(guān)故障。
因此,在檢測(cè)到短路或過(guò)流后,最好使用軟關(guān)斷 (STO) 或兩級(jí)關(guān)斷 (2LTO) 來(lái)關(guān)斷電源開(kāi)關(guān)。在軟關(guān)斷期間(如圖 6-1 所示),使用較小且恒定的灌電流來(lái)關(guān)斷器件。關(guān)斷時(shí)間會(huì)增加,關(guān)斷速度會(huì)降低,而柵極會(huì)緩慢放電。在兩級(jí)關(guān)斷期間(如圖 6-2 所示),柵極被首先下拉至中壓電平并保持固定的時(shí)長(zhǎng)。固定時(shí)間結(jié)束后,驅(qū)動(dòng)器繼續(xù)以較小的恒定灌電流拉低柵極電壓。這兩種方法都能降低關(guān)斷速度,減小 di/dt 并降低 VCE/VDS 過(guò)沖,以保護(hù)器件。
圖 6-1 軟關(guān)斷
圖 6-2 兩級(jí)關(guān)斷