ZHCT991 November 2025 TPS563252 , TPSM863252
5 實驗結(jié)果
為保證Converter和Module的測試條件盡量一致，將TPS563252EVM (Converter)上的0.82uH電感更換為和TPSM863252 (Module)芯片內(nèi)部相同的1uH電感。首先是對于兩個評估板SW節(jié)點波形的測量，如圖 8 和 圖 9 所示。
圖 8 Converter在3A輸出狀態(tài)下的SW節(jié)點波形
圖 9 Module在3A輸出狀態(tài)下的SW節(jié)點波形通過SW節(jié)點的波形可以發(fā)現(xiàn)，由于Buck Converter的SW需要與外部電感連接，其PCB上的布局布線會引入寄生電感，導致出現(xiàn)振鈴問題，從而影響EMI表現(xiàn)。Buck Module由于內(nèi)置電感，SW節(jié)點與輸出電感在芯片內(nèi)部連接，有效降低了寄生電感，便沒有出現(xiàn)振鈴問題。接下來是對兩個評估板EMI實驗。表 1 為EMI實驗測試條件。
| IC | Vin | Vout | Iout | Switching Frequency |
| TPS563252 | 12V | 1.05V | 3A (1uH inductor) | 1.2MHz |
| TPSM863252 | 12V | 1.05V | 3A | 1.2MHz |
本次EMI測試采用CISPER-32標準，使用對數(shù)周期天線接收輻射發(fā)射，分別在0°，90°，180°，270°四個角度，5m，10m，20m，40m四種天線高度收集開關(guān)電源電路產(chǎn)生的輻射發(fā)射EMI，最終以多次實驗的最大值作為參考。輻射發(fā)射實驗測試環(huán)境如圖 10 所示。
圖 10 輻射發(fā)射實驗測試環(huán)境最終得到的EMI測試結(jié)果如圖 11，圖 12 所示。
圖 11 Converter的輻射發(fā)射EMI測試結(jié)果
圖 12 Module的輻射發(fā)射EMI測試結(jié)果通過測試結(jié)果可以發(fā)現(xiàn)，由于Module內(nèi)部包含電感，振鈴問題得到了有效地改善，振鈴（33MHz左右）對應(yīng)的多次諧波（66MHz, 99MHz）及其附近旁瓣頻率產(chǎn)生的EMI也得到了有效的抑制，分別下降了10dB左右。由于Buck Module 相比Buck Converter擁有集成電感，其關(guān)鍵路徑的寄生電感更小，更好地抑制了振鈴問題，因此使用Buck Module可以獲得更好的EMI表現(xiàn)。