該器件包含可使用 SDIO 引腳回讀內(nèi)部寄存器內(nèi)容的模式。該回讀模式可用作診斷檢查,以驗證外部控制器和 ADC 之間的串行接口通信。讀取串行寄存器內(nèi)容的過程如下:
- 將 SEN 引腳驅(qū)動為低電平(當(dāng) SEN 驅(qū)動為低電平時,所有 SPI 上升時鐘沿和下降時鐘沿都需要發(fā)生)。
- 將 R/W 位 (A15) 設(shè)置為 1。該設(shè)置會禁用對寄存器的任何進一步寫入。
- 啟動串行接口周期,指定必須讀取其內(nèi)容的寄存器地址 (A[14:0])
- 該器件在 SCLK 下降沿將所選寄存器的內(nèi)容 (D[7:0]) 發(fā)送到 SDIO 引腳
- 外部控制器可以在 SCLK 上升沿上捕獲內(nèi)容