ZHCSZ74 November 2025 MCF8329HS-Q1
PRODUCTION DATA
該器件具有可調(diào)節(jié)的 VDS 電壓監(jiān)視器,可檢測(cè)外部功率 MOSFET 上的過流或短路情況。通過監(jiān)視外部 MOSFET RDS(on) 上的 VDS 壓降來檢測(cè) MOSFET 過流事件。高側(cè) VDS 監(jiān)視器在 PVDD 和 SHx 引腳之間進(jìn)行測(cè)量,低側(cè) VDS 監(jiān)視器在 SHx 和 LSS 引腳之間進(jìn)行測(cè)量。如果外部 MOSFET 兩端的電壓超過 SEL_VDS_LVL 設(shè)置的閾值的時(shí)間大于 tDS_DG 抗尖峰脈沖時(shí)間,則會(huì)識(shí)別到 VDS_OCP 事件。檢測(cè)到 VDS 過流事件后,所有柵極驅(qū)動(dòng)器輸出都被驅(qū)動(dòng)為低電平以禁用外部 MOSFET,并且 nFAULT 引腳被驅(qū)動(dòng)為低電平。可以通過將 DIS_VDS_FLT 配置為 1b 來禁用 VDS_OCP。
發(fā)生 VDS_OCP 事件時(shí),可以使用 VDS_FLT_MODE 位將器件配置為鎖存故障狀態(tài)或重試模式。當(dāng) VDS_FLT_MODE = 0b 時(shí),在清除 VDS_OCP 條件并通過 CLR_FLT 位發(fā)出清除故障命令后,將恢復(fù)正常運(yùn)行。當(dāng) VDS_FLT_MODE = 1b 時(shí),在清除 VDS_OCP 條件并且經(jīng)過了 tLCK_RETRY 時(shí)長后,將恢復(fù)正常運(yùn)行。GATE_DRIVER_FAULT_STATUS 寄存器中提供了 FET 范圍 VDS 故障信息。
圖 7-47 VDS 監(jiān)控器