ZHCSYD5 June 2025 DAC39RF20
ADVANCE INFORMATION
請(qǐng)參考 PDF 數(shù)據(jù)表獲取器件具體的封裝圖。
使用 CRC 或 FEC 來驗(yàn)證數(shù)據(jù)完整性(請(qǐng)參閱 SHMODE)。當(dāng)多塊存在 CRC 校驗(yàn)失敗 (SHMODE=0) 或 FEC 無法糾正檢測(cè)到的錯(cuò)誤 (SHMODE=2) 時(shí),會(huì)檢測(cè)到數(shù)據(jù)完整性錯(cuò)誤。
對(duì)于每個(gè)通道,如果出現(xiàn) CRC 或不可修正的 FEC 錯(cuò)誤的多塊數(shù)量超過 DI_ERR_TH 設(shè)置的閾值,而沒有一連串由 DI_ERR_REC 指定的連續(xù)、無錯(cuò)誤多塊,則設(shè)置內(nèi)部信號(hào) DI_FAULT。當(dāng)檢測(cè)到由 DI_ERR_REC 指定的一連串連續(xù)、無錯(cuò)誤多塊時(shí),系統(tǒng)會(huì)將 DI_FAULT 清除。
錯(cuò)誤率計(jì)數(shù)器僅適用于 FEC。CRC 錯(cuò)誤率可通過 PHY 級(jí) BER 測(cè)試來估算。
使用 FEC 錯(cuò)誤率測(cè)試:
請(qǐng)注意,F(xiàn)EC 在檢測(cè)到不可糾正的錯(cuò)誤時(shí)不如 CRC 有效,并且超過校正能力的錯(cuò)誤仍可能報(bào)告為可糾正的錯(cuò)誤。有關(guān) FEC 算法的詳細(xì)信息,請(qǐng)參閱 JESD204C 規(guī)范。